基于三維激光掃描儀標(biāo)靶拼站模式的建筑測(cè)繪方法優(yōu)化研究
發(fā)布時(shí)間:2021-07-13 02:43
筆者從建筑測(cè)繪工作自身特點(diǎn)出發(fā),結(jié)合多年實(shí)際測(cè)繪經(jīng)驗(yàn),介紹了三維激光掃描儀建筑測(cè)繪的基本工作內(nèi)容,對(duì)其標(biāo)靶拼站模式與點(diǎn)云擬合拼站模式的優(yōu)勢(shì)與劣勢(shì)進(jìn)行了對(duì)比,并具體說(shuō)明了標(biāo)靶的選擇和布置原則,設(shè)置掃描路線的三種方式,以及通過(guò)精確分工提高工作效率的方法。
【文章來(lái)源】:居舍. 2020,(30)
【文章頁(yè)數(shù)】:3 頁(yè)
【部分圖文】:
球體標(biāo)靶和棋盤(pán)紙質(zhì)標(biāo)靶(作者自繪)
按單條路線測(cè)繪是最常用的一種模式,邏輯清晰,操作簡(jiǎn)單。單條路線測(cè)繪應(yīng)遵循“一主線多支線、兩組標(biāo)靶反復(fù)用”的原則。所謂主線,指將站點(diǎn)盡可能連成一條多段線,期間允許產(chǎn)生多個(gè)分支線路。同時(shí),在條件允許的情況下,盡可能利用同一組標(biāo)靶關(guān)聯(lián)多個(gè)站點(diǎn)掃描,這種做法在測(cè)室內(nèi)時(shí)非常有用(圖2)。單條路線測(cè)繪的優(yōu)勢(shì)是簡(jiǎn)單明確,遇到一般的線路分叉點(diǎn)都可通過(guò)分支線路解決。單條路線測(cè)繪在設(shè)計(jì)路線時(shí)需要?jiǎng)幽X筋,類(lèi)似解決“一筆畫(huà)”的問(wèn)題。一般分支線路不宜超過(guò)兩站(如圖2虛線),如果出現(xiàn)較長(zhǎng)支路就需要加一組標(biāo)靶,如此單條路線測(cè)繪也就改為多條路線測(cè)繪。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]激光三維掃描技術(shù)用于古建筑測(cè)繪的研究[J]. 余明,丁辰,過(guò)靜王君. 測(cè)繪科學(xué). 2004(05)
本文編號(hào):3281173
【文章來(lái)源】:居舍. 2020,(30)
【文章頁(yè)數(shù)】:3 頁(yè)
【部分圖文】:
球體標(biāo)靶和棋盤(pán)紙質(zhì)標(biāo)靶(作者自繪)
按單條路線測(cè)繪是最常用的一種模式,邏輯清晰,操作簡(jiǎn)單。單條路線測(cè)繪應(yīng)遵循“一主線多支線、兩組標(biāo)靶反復(fù)用”的原則。所謂主線,指將站點(diǎn)盡可能連成一條多段線,期間允許產(chǎn)生多個(gè)分支線路。同時(shí),在條件允許的情況下,盡可能利用同一組標(biāo)靶關(guān)聯(lián)多個(gè)站點(diǎn)掃描,這種做法在測(cè)室內(nèi)時(shí)非常有用(圖2)。單條路線測(cè)繪的優(yōu)勢(shì)是簡(jiǎn)單明確,遇到一般的線路分叉點(diǎn)都可通過(guò)分支線路解決。單條路線測(cè)繪在設(shè)計(jì)路線時(shí)需要?jiǎng)幽X筋,類(lèi)似解決“一筆畫(huà)”的問(wèn)題。一般分支線路不宜超過(guò)兩站(如圖2虛線),如果出現(xiàn)較長(zhǎng)支路就需要加一組標(biāo)靶,如此單條路線測(cè)繪也就改為多條路線測(cè)繪。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]激光三維掃描技術(shù)用于古建筑測(cè)繪的研究[J]. 余明,丁辰,過(guò)靜王君. 測(cè)繪科學(xué). 2004(05)
本文編號(hào):3281173
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