本文關(guān)鍵詞：線陣推掃光學(xué)衛(wèi)星外方位元素自檢校方法

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【摘要】：在深入分析線陣推掃光學(xué)衛(wèi)星外方位元素誤差對幾何定位影響特性的基礎(chǔ)上,利用俯仰角、滾動角誤差引起幾何定位誤差的方向特性,提出了不依賴地面控制點(diǎn)的外方位元素自檢校方法.采用仿真數(shù)據(jù)驗證了方法的正確性,結(jié)果表明該方法能夠補(bǔ)償外方位元素誤差,有效提升無控幾何定位精度.
【作者單位】： 武漢大學(xué)遙感信息工程學(xué)院;武漢大學(xué)測繪遙感信息工程國家重點(diǎn)實驗室;中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所;長光衛(wèi)星技術(shù)有限公司;
【基金】：中國博士后科學(xué)基金(2015M582276,2014M562006) 測繪遙感信息工程國家重點(diǎn)實驗室項目(15E02) 地理信息工程國家重點(diǎn)實驗室開放基金(SKLGIE2015-Z-3-1) 測繪地理信息公益性行業(yè)科研專項(201512022) 國家自然科學(xué)基金(91538106,41501503)
【分類號】：P237
【正文快照】： calibration;geometric positioning accuracy利用地面控制點(diǎn)進(jìn)行外檢校是提升光學(xué)遙感衛(wèi)星無控制幾何定位精度的關(guān)鍵技術(shù).由于衛(wèi)星在軌運(yùn)行過程中物理環(huán)境變化劇烈,星上成像幾何參數(shù)(如相機(jī)安裝等)會隨物理環(huán)境的變化而發(fā)生變化,這使得單次檢校獲取的檢校參數(shù)難以保障幾何定

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本文編號：1201288