發(fā)布時(shí)間：2025-05-13 02:29

　　瞬變電磁法(Transient electromagnetic methods,簡(jiǎn)稱TEM)是利用不接地回線或接地線源向地下發(fā)送一次脈沖磁場(chǎng)(一次場(chǎng)),在一次場(chǎng)間歇期間,用線圈或接地電極觀測(cè)純二次場(chǎng)的一種時(shí)間域電磁方法。由于觀測(cè)到的二次場(chǎng)攜有關(guān)于地質(zhì)體的大量地電信息,通過(guò)處理和分析這些測(cè)量數(shù)據(jù)可以達(dá)到勘探地下結(jié)構(gòu)的目的。根據(jù)激發(fā)場(chǎng)源的不同,瞬變電磁法分為磁性源和電性源兩類,電性源瞬變電磁法近些年來(lái)在理論與應(yīng)用方面取得了突飛猛進(jìn)的發(fā)展,尤其在中-深部資源礦產(chǎn)勘查方面發(fā)揮著越來(lái)越顯著的作用。電性源瞬變電磁法在實(shí)際勘探中,為了增強(qiáng)接收信號(hào)的幅值,提高信噪比,通常使用較長(zhǎng)的發(fā)射導(dǎo)線以增大電極距,這種測(cè)量方式稱為長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁法。該方法具有工作效率高、勘探深度大、分辨率能力強(qiáng)、對(duì)高、低阻目標(biāo)體響應(yīng)都靈敏的特征,相比于磁性源瞬變電磁更適合山區(qū)、沼澤等復(fù)雜地形,近些年來(lái)在礦產(chǎn)、能源、水文、以及工程與環(huán)境等方面發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。本文主要對(duì)長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁法的一維正演方法和反演方法進(jìn)行了研究,并將該方法應(yīng)用于石墨礦產(chǎn)資源勘探中,取得了良好的效果。首先,從麥克斯韋方程組出發(fā)推導(dǎo)出長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁在水...

【文章頁(yè)數(shù)】：67 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
第1章 緒論
    1.1 選題依據(jù)與研究意義
    1.2 研究現(xiàn)狀
    1.3 研究?jī)?nèi)容
第2章 長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁響應(yīng)數(shù)值計(jì)算
    2.1 電磁場(chǎng)理論基礎(chǔ)
        2.1.1 波動(dòng)方程
        2.1.2 矢量位的引入
        2.1.3 邊界條件
    2.2 水平電偶源電磁場(chǎng)響應(yīng)計(jì)算
    2.3 長(zhǎng)導(dǎo)線源電磁場(chǎng)響應(yīng)計(jì)算
        2.3.1 頻率域求解
        2.3.2 外層積分計(jì)算
        2.3.3 時(shí)間域轉(zhuǎn)換
    2.4 全區(qū)視電阻率的定義
    2.5 小結(jié)
第3章 長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁響應(yīng)特征研究
    3.1 模型驗(yàn)證
    3.2 地層參數(shù)變化時(shí)的響應(yīng)特征
        3.2.1 均勻半空間電阻率變化
        3.2.2 低阻目標(biāo)層變化
        3.2.3 高阻目標(biāo)層變化
    3.3 裝置參數(shù)變化時(shí)的響應(yīng)特征
        3.3.1 收-發(fā)距變化
        3.3.2 測(cè)點(diǎn)相對(duì)位置變化
    3.4 地表不同時(shí)刻Vz分布圖
    3.5 擬二維數(shù)值計(jì)算
    3.6 小結(jié)
第4章 長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁反演方法研究
    4.1 瞬變反演方法簡(jiǎn)述
    4.2 阻尼最小二乘反演
        4.2.1 目標(biāo)函數(shù)與法方程的建立
        4.2.2 雅可比矩陣的計(jì)算
        4.2.3 阻尼因子的調(diào)整
        4.2.4 反演程序框圖
    4.3 反演算法效果與驗(yàn)證
    4.4 小結(jié)
第5章 長(zhǎng)導(dǎo)線源瞬變電磁法在石墨礦勘探中的應(yīng)用
    5.1 工作目的
    5.2 地質(zhì)概況與地球物理特征
        5.2.1 地質(zhì)概況
        5.2.2 地球物理特征
    5.3 工區(qū)布置
    5.4 成果分析
        5.4.1 測(cè)線平剖圖分析
        5.4.2 典型剖面綜合分析
        5.4.3 其余測(cè)線數(shù)據(jù)反演效果圖
        5.4.4 反演整體效果分析
    5.5 小結(jié)
結(jié)論
致謝
參考文獻(xiàn)
攻讀學(xué)位期間取得學(xué)術(shù)成果



本文編號(hào)：4045599