本文關(guān)鍵詞：西電郝躍院士團(tuán)隊(duì)在先進(jìn)微電子器件研究領(lǐng)域取得突破性進(jìn)展

  更多相關(guān)文章： 微電子器件 電容效應(yīng) 器件技術(shù) Electron 擺幅 亞閾值 研究成果 按比例縮小 寬禁帶半導(dǎo)體 反型層

【摘要】：正日前,西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院郝躍院士研究團(tuán)隊(duì)在負(fù)電容鍺與鍺錫溝道金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)研究領(lǐng)域取得了突破性進(jìn)展,首次通過實(shí)驗(yàn),系統(tǒng)地驗(yàn)證了鐵電MOSFET器件中的負(fù)電容效應(yīng)以及負(fù)電容對(duì)器件電流和亞閾值擺幅的提升作用。在美國(guó)舊金山舉行的2016年IEEE International Electron Devices Meeting
【關(guān)鍵詞】： 微電子器件;電容效應(yīng);器件技術(shù);Electron;擺幅;亞閾值;研究成果;按比例縮小;寬禁帶半導(dǎo)體;反型層;
【分類號(hào)】：TN386
【正文快照】： 日前,西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院郝躍院士研究團(tuán)隊(duì)在負(fù)電容鍺與鍺錫溝道金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)研究領(lǐng)域取得了突破性進(jìn)展,首次通過實(shí)驗(yàn),系統(tǒng)地驗(yàn)證了鐵電MOSFET器件中的負(fù)電容效應(yīng)以及負(fù)電容對(duì)器件電流和亞閾值擺幅的提升作用。在美國(guó)舊金山舉行的2016年IEEE

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 黃偉嘉;;利用 X 射線生產(chǎn)微電子器件[J];電子技術(shù);1977年01期

2 鄭鵬洲;MIL-STD-883更名并作重大修改[J];質(zhì)量與可靠性;2001年04期

3 王志功 ,陳志恒;第二屆中-德光電子微電子器件與電路專家論壇閉幕[J];光電子技術(shù)與信息;2002年02期

4 李志國(guó),李杰,郭春生,程堯海;微電子器件多失效機(jī)理可靠性壽命外推模型[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2004年04期

5 孫銑;微電子器件測(cè)試技術(shù)(上)[J];電子質(zhì)量;2005年06期

6 柴清和,柴立和;微電子器件散熱控制及設(shè)計(jì)的一個(gè)理論模型[J];儀器儀表學(xué)報(bào);2005年S1期

7 祁樹鋒;張曉倩;曾泰;劉紅兵;楊潔;;靜電放電電磁脈沖對(duì)微電子器件的雙重作用[J];河北師范大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2011年06期

8 王修佩;微電子器件氣密性檢測(cè)的新方法[J];半導(dǎo)體光電;1983年02期

9 金德宣;張曉梅;;微電子器件焊接新技術(shù)[J];電子工藝技術(shù);1985年01期

10 唐功文;真空微電子器件[J];半導(dǎo)體技術(shù);1989年03期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 薛增泉;;納電子器件帶來的機(jī)遇[A];科技進(jìn)步與學(xué)科發(fā)展——“科學(xué)技術(shù)面向新世紀(jì)”學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];1998年

2 柴清和;柴立和;;微電子器件散熱控制及設(shè)計(jì)的一個(gè)理論模型[A];第三屆全國(guó)信息獲取與處理學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2005年

3 趙毅強(qiáng);;微電子器件基礎(chǔ)教學(xué)探討[A];電子高等教育學(xué)會(huì)2007年學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];2007年

4 肖瑩;沈森祖;孫海;;微電子器件檢測(cè)校準(zhǔn)技術(shù)研究[A];第一屆中國(guó)微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)論文集[C];2008年

5 張其海;張謙琳;呂述望;梁蘇軍;張送根;;微電子器件的聲顯微檢測(cè)[A];中國(guó)聲學(xué)學(xué)會(huì)2002年全國(guó)聲學(xué)學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2002年

6 路秀琴;劉建成;郭繼宇;張慶祥;黃治;張振龍;郭剛;沈東軍;惠寧;倪嵋楠;孔福全;韓建偉;;一種實(shí)驗(yàn)確定微電子器件靈敏體積的方法[A];第十次全國(guó)核結(jié)構(gòu)研討會(huì)暨第六次全國(guó)核結(jié)構(gòu)專題討論會(huì)會(huì)議文集（一）[C];2004年

7 王魯寧;沈森祖;周紅;肖瑩;;基于微電子器件的武器裝備支持保障系統(tǒng)綜述[A];第一屆中國(guó)微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)論文集[C];2008年

8 傅豐林;楊清海;;麻省理工學(xué)院微電子器件和電路課程探析[A];中國(guó)電子教育學(xué)會(huì)高教分會(huì)2009年論文集[C];2009年

9 周紅;沈森祖;王魯寧;;艦船微電子器件老化篩選技術(shù)研究[A];第一屆中國(guó)微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)論文集[C];2008年

10 謝有守;劉偉明;;微電子器件熱沖擊試驗(yàn)及其試驗(yàn)設(shè)備[A];2000電子產(chǎn)品防護(hù)技術(shù)研討會(huì)論文集[C];2004年

中國(guó)重要報(bào)紙全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 甘肅 秦三軍 編譯;汽車的未來和微電子器件[N];電子報(bào);2013年

2 記者 趙秋麗邋特約記者 李志臣;山東大學(xué)微電子器件及可靠性研究取得突破[N];光明日?qǐng)?bào);2007年

中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 朱陽軍;微電子器件熱譜分析方法的研究[D];山東大學(xué);2007年

2 馬中發(fā);微電子器件可靠性建模與仿真的逾滲分析方法[D];西安電子科技大學(xué);2005年

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前4條

1 孫大鵬;微電子器件快速評(píng)價(jià)新方法的研究[D];北京工業(yè)大學(xué);2001年

2 金家存;軍用微電子器件耐高過載技術(shù)研究[D];南京理工大學(xué);2008年

3 張新;航天微電子器件單粒子翻轉(zhuǎn)研究[D];中國(guó)原子能科學(xué)研究院;2002年

4 高迎賓;真空微電子器件中離子轟擊的研究[D];東南大學(xué);2004年

，

本文編號(hào)：977635