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SU-8光刻膠應(yīng)變分布光學(xué)全場檢測方法

發(fā)布時(shí)間:2017-09-30 05:32

  本文關(guān)鍵詞:SU-8光刻膠應(yīng)變分布光學(xué)全場檢測方法


  更多相關(guān)文章: 剪切散斑干涉 SU-光刻膠 應(yīng)力分布 應(yīng)變 仿真模擬


【摘要】:由于SU-8光刻膠的內(nèi)應(yīng)力將會影響高深寬比結(jié)構(gòu)的全金屬光柵的制作質(zhì)量,本文針對近年來SU-8光刻膠應(yīng)力測量困難的情況,提出了一種基于激光剪切散斑干涉技術(shù)的SU-8光刻膠應(yīng)變分布測量的新方法。該方法通過對被測膠體加載前后兩幅干涉圖像的處理,直接得到被測膠體結(jié)構(gòu)的全場應(yīng)變分布情況,由膠體的應(yīng)變變形數(shù)據(jù)即可反映出內(nèi)應(yīng)力的變化和分布趨勢。同時(shí)使用ANSYS有限元分析軟件對同一被測膠體進(jìn)行應(yīng)變仿真模擬研究,獲得膠體結(jié)構(gòu)的變形場仿真數(shù)據(jù)。組建了實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,結(jié)果表明:實(shí)際測量變形量約為1.189μm,仿真的最大變形量為1.088μm,測量誤差在允許范圍內(nèi),且測量的形變趨勢與仿真模擬結(jié)果相一致,表明激光剪切散斑干涉技術(shù)可應(yīng)用于SU-8光刻膠的應(yīng)變分布全場無損檢測。
【作者單位】: 合肥工業(yè)大學(xué)儀器科學(xué)與光電工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】剪切散斑干涉 SU-光刻膠 應(yīng)力分布 應(yīng)變 仿真模擬
【基金】:國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(No.51375136) 中航產(chǎn)學(xué)研專項(xiàng)資助項(xiàng)目(No.CXY2013HFGD22)~~
【分類號】:TN305.7
【正文快照】: 1引言SU-8光刻膠是一種樹脂型的高聚合物,因?yàn)槠渚哂辛己玫臋C(jī)械、物理、力學(xué)、光學(xué)等性能,從而成為制作高深寬比結(jié)構(gòu)的全金屬光柵的首選膠[1]。但是,在光刻工藝中,SU-8膠會產(chǎn)生較大的內(nèi)應(yīng)力,從而導(dǎo)致SU-8膠膠層出現(xiàn)裂紋或從基片上脫落,破壞其圖形結(jié)構(gòu)的質(zhì)量和穩(wěn)定性。因此,SU-

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級參考文獻(xiàn)】

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6 楊連祥;祝連慶;謝辛;董明利;吳思進(jìn);;電子散斑干涉測量中相移技術(shù)的新發(fā)展[J];北京信息科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2013年02期

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號:946447

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