本文關(guān)鍵詞：利用整數(shù)存儲(chǔ)無(wú)理數(shù)的測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法

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【摘要】：針對(duì)集成電路測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備需要傳輸大量測(cè)試數(shù)據(jù)到被測(cè)芯片,浪費(fèi)了大量的測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間,不能降低芯片測(cè)試成本的情況,提出一種整數(shù)存儲(chǔ)無(wú)理數(shù)的測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法.首先將測(cè)試數(shù)據(jù)按游程長(zhǎng)度劃分,默認(rèn)第1個(gè)游程長(zhǎng)度為小數(shù)的個(gè)位,其他游程長(zhǎng)度依次為小數(shù)的小數(shù)位,將測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成小數(shù);然后提出用二分查找無(wú)理數(shù)的方法,將該小數(shù)轉(zhuǎn)化成可以整數(shù)表示的無(wú)理數(shù);最后存儲(chǔ)無(wú)理數(shù)對(duì)應(yīng)的整數(shù)表示m,l,k.該方法采取傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)規(guī)律而不是測(cè)試數(shù)據(jù)本身的方法,理論上可以將整個(gè)測(cè)試集的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)化成對(duì)單個(gè)或若干個(gè)無(wú)理數(shù)對(duì)應(yīng)整數(shù)表示的存儲(chǔ).對(duì)部分ISCAS89標(biāo)準(zhǔn)電路中規(guī)模較大的時(shí)序電路進(jìn)行實(shí)驗(yàn),結(jié)果表明,在同樣實(shí)驗(yàn)環(huán)境下,其壓縮效果方面優(yōu)于Golomb碼、FDR碼、EFDR碼、MFVRCVB碼等成熟的編碼方法.
【作者單位】： 安慶師范大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮 無(wú)理數(shù) 靜態(tài)編碼 動(dòng)態(tài)編碼
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61306046,61540011) 安徽省學(xué)術(shù)技術(shù)帶頭人后備人選(GXBJZD2016075,2015H053)
【分類號(hào)】：TN407
【正文快照】： 隨著集成電路的發(fā)展,如何處理越來(lái)越龐大的測(cè)試數(shù)據(jù)已成為集成電路測(cè)試的關(guān)鍵難題之一.根據(jù)ITRS在2010年的報(bào)告數(shù)據(jù),測(cè)試一個(gè)芯片,在2009年僅僅需要85個(gè)測(cè)試模式數(shù),只需要壓縮比為80;而到2019年,對(duì)測(cè)試模式數(shù)的要求則需要達(dá)到20 370個(gè),對(duì)壓縮比的要求則需要達(dá)到12 000.僅僅10

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中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前9條

1 王明之;怎樣正確記錄和書(shū)寫(xiě)測(cè)試數(shù)據(jù)(續(xù))[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);1994年02期

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中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條

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本文編號(hào)：927711