本文關(guān)鍵詞：利用整數(shù)存儲無理數(shù)的測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法

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【摘要】：針對集成電路測試過程中自動測試設(shè)備需要傳輸大量測試數(shù)據(jù)到被測芯片,浪費了大量的測試數(shù)據(jù)傳輸時間,不能降低芯片測試成本的情況,提出一種整數(shù)存儲無理數(shù)的測試數(shù)據(jù)編碼壓縮方法.首先將測試數(shù)據(jù)按游程長度劃分,默認(rèn)第1個游程長度為小數(shù)的個位,其他游程長度依次為小數(shù)的小數(shù)位,將測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成小數(shù);然后提出用二分查找無理數(shù)的方法,將該小數(shù)轉(zhuǎn)化成可以整數(shù)表示的無理數(shù);最后存儲無理數(shù)對應(yīng)的整數(shù)表示m,l,k.該方法采取傳輸測試數(shù)據(jù)規(guī)律而不是測試數(shù)據(jù)本身的方法,理論上可以將整個測試集的存儲轉(zhuǎn)化成對單個或若干個無理數(shù)對應(yīng)整數(shù)表示的存儲.對部分ISCAS89標(biāo)準(zhǔn)電路中規(guī)模較大的時序電路進(jìn)行實驗,結(jié)果表明,在同樣實驗環(huán)境下,其壓縮效果方面優(yōu)于Golomb碼、FDR碼、EFDR碼、MFVRCVB碼等成熟的編碼方法.
【作者單位】： 安慶師范大學(xué)計算機與信息學(xué)院;合肥工業(yè)大學(xué)電子科學(xué)與應(yīng)用物理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 測試數(shù)據(jù)壓縮 無理數(shù) 靜態(tài)編碼 動態(tài)編碼
【基金】：國家自然科學(xué)基金(61306046,61540011) 安徽省學(xué)術(shù)技術(shù)帶頭人后備人選(GXBJZD2016075,2015H053)
【分類號】：TN407
【正文快照】： 隨著集成電路的發(fā)展,如何處理越來越龐大的測試數(shù)據(jù)已成為集成電路測試的關(guān)鍵難題之一.根據(jù)ITRS在2010年的報告數(shù)據(jù),測試一個芯片,在2009年僅僅需要85個測試模式數(shù),只需要壓縮比為80;而到2019年,對測試模式數(shù)的要求則需要達(dá)到20 370個,對壓縮比的要求則需要達(dá)到12 000.僅僅10

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本文編號：927711