本文關(guān)鍵詞：鍍層質(zhì)量對金-鋁異質(zhì)鍵合可靠性的影響

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【摘要】：研究了鍍金外殼上金-鋁異質(zhì)鍵合的可靠性和退化規(guī)律。分析了管殼鍍金工藝對對金-鋁異質(zhì)鍵合的影響。研究發(fā)現(xiàn)管殼鍍金前放置時(shí)間、鍍金層厚度和鍍金液中雜質(zhì)離子是影響金-鋁異質(zhì)鍵合的重要因素。鍍金前放置時(shí)間越短、鍍金層厚度越薄、鍍金液中雜質(zhì)離子越少,器件金-鋁異質(zhì)鍵合可靠性越高。同時(shí),研究發(fā)現(xiàn)高溫存儲(chǔ)是驗(yàn)證鍍金層金-鋁異質(zhì)鍵合可靠性的有效途徑。
【作者單位】： 中國航天科技集團(tuán)公司第九研究院第771研究所;
【關(guān)鍵詞】： 鍍金層 金-鋁異質(zhì)鍵合 脫鍵 高溫存儲(chǔ)
【分類號(hào)】：TN405
【正文快照】： 電路組裝中經(jīng)常采用引線鍵合的方式實(shí)現(xiàn)基板鍵合系統(tǒng)在高于200℃環(huán)境中長時(shí)間存儲(chǔ)后,由于與管腳的電氣互聯(lián)。引線鍵合是電路組裝過程中的Au、Al元素之間的相互擴(kuò)散運(yùn)動(dòng),會(huì)在界面處生成關(guān)鍵工序,其可靠性對電路的合格率和長期可靠性五種金屬間化合物(Au Al2、Au Al、Au2Al、Au5

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1 鐘小剛;李莉;;高溫存儲(chǔ)下銅線鍵合焊點(diǎn)分析[J];電子與封裝;2014年06期

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本文編號(hào)：923342