本文關(guān)鍵詞：基于激光電子散斑干涉技術(shù)的電路熱變形研究

  更多相關(guān)文章： 電路熱變形 激光電子散斑干涉 局部傅里葉變換濾波 骨架線提取

【摘要】：在工作狀態(tài)下,由于電子元器件的發(fā)熱會(huì)導(dǎo)致電路板熱變形,影響整個(gè)電路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。針對(duì)此問題,本文提出了一種基于激光電子散斑技術(shù)的電路熱變形研究方法。在獲得電子散斑干涉條紋圖的基礎(chǔ)上,采用局部傅里葉變換濾波以消除圖像噪聲對(duì)條紋圖相位提取的影響。同時(shí),為有效地提取電子散斑干涉相位,設(shè)計(jì)了一種基于方向耦合的梯度矢量場(chǎng)骨架線提取算法;并搭建了雙光束光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),分析了測(cè)量原理;最后針對(duì)升溫和冷卻過程中電路變形情況進(jìn)行了相關(guān)實(shí)驗(yàn)研究。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:本文所述方法可以有效地提取電子散斑干涉條紋圖的骨架線,反映電路系統(tǒng)的熱變形情況。
【作者單位】： 黃河科技學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 電路熱變形 激光電子散斑干涉 局部傅里葉變換濾波 骨架線提取
【基金】：河南省教育廳科學(xué)技術(shù)研究重點(diǎn)項(xiàng)目(14B510006) 光電信息技術(shù)及應(yīng)用鄭州市重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目(114PYFZX505)
【分類號(hào)】：TN407;TN249
【正文快照】： 激光電子散斑干涉技術(shù)[1-5]是一種基于激光和計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)的可用于微小變形或位移測(cè)量的技術(shù)手段[6,7]。電子散斑干涉測(cè)量大多依靠條紋圖,而且需要提取條紋圖的骨架線,進(jìn)而根據(jù)骨架線級(jí)數(shù)確定其對(duì)應(yīng)點(diǎn)的相位數(shù)值,并利用插值,得到全部相位數(shù)值[8]。然而,受噪聲的影響,一

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本文編號(hào)：920605