本文關(guān)鍵詞：CMOS數(shù)字IC管腳電容的估算與測量

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【摘要】：針對CMOS數(shù)字IC管腳電容的測試問題,從標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定、規(guī)范規(guī)定的角度進(jìn)行了分析;利用最小阻抗通路法對管腳電容在各種偏置情況下的量值進(jìn)行了估算;并結(jié)合LCR測量儀的測試原理,解釋了與CMOS數(shù)字IC端電容測試相關(guān)的疑問,得出了電容只需簡單測試即可的結(jié)論。
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【關(guān)鍵詞】： 集成電路 管腳電容 阻抗 阻抗分析儀 估算與測量
【分類號】：TN432.07
【正文快照】： 0引言集成電路中的電容影響時序關(guān)系和電源功率的消耗。系統(tǒng)設(shè)計時需要器件的電容值,器件設(shè)計仿真時也需要電容值。因此,幾乎所有的集成電路規(guī)范都有管腳電容數(shù)值測試的要求。根據(jù)器件的應(yīng)用范圍,需要測試的電容或測試方式可以分為多種,例如:IC管腳輸入電容(CIN)測試、管腳輸，

本文編號：876783