本文關(guān)鍵詞：光電耦合器內(nèi)部氣氛長(zhǎng)期貯存變化的研究

  更多相關(guān)文章： 光電耦合器 長(zhǎng)期貯存 氣體流動(dòng)原理 內(nèi)部氣氛變化

【摘要】：根據(jù)氣密封裝器件的內(nèi)部氣體流動(dòng)原理,對(duì)光電耦合器內(nèi)部氣氛含量的初始狀態(tài)進(jìn)行了分析,對(duì)長(zhǎng)期貯存的變化狀態(tài)進(jìn)行了預(yù)測(cè),隨后采用內(nèi)部氣氛分析儀驗(yàn)證預(yù)測(cè)結(jié)果,證明了氣體流量原理能夠有效預(yù)測(cè)光電耦合器封裝內(nèi)部的氣氛含量,并且能夠?qū)⒎庋b工藝的薄弱環(huán)節(jié)暴露在檢測(cè)初始階段。通過分析測(cè)量漏率與真實(shí)漏率之間的關(guān)系,對(duì)提高預(yù)測(cè)光電耦合器內(nèi)部氣氛含量長(zhǎng)期貯存變化的準(zhǔn)確性提出了建議。
【作者單位】： 工業(yè)和信息化部電子第五研究所;中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十四研究所;
【關(guān)鍵詞】： 光電耦合器 長(zhǎng)期貯存 氣體流動(dòng)原理 內(nèi)部氣氛變化
【基金】：廣東省自然科學(xué)基金項(xiàng)目(2015A030310331,2015A030306002)
【分類號(hào)】：TN622
【正文快照】： 氣密性封裝光電耦合器(以下簡(jiǎn)稱光電耦合器)的可靠性與封裝內(nèi)部殘余氣氛含量有著密切的關(guān)系,長(zhǎng)期貯存環(huán)境中的溫度及濕度對(duì)其內(nèi)部氣氛變化都會(huì)產(chǎn)生直接的影響,水汽的侵入將導(dǎo)致集電極暗電流ICEO[1-2]增大等性能參數(shù)退化。目前國(guó)內(nèi)外普遍采用美國(guó)IVA-210s內(nèi)部氣氛分析儀對(duì)氣密

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本文編號(hào)：837580