發(fā)布時(shí)間：2017-09-09 22:47

  本文關(guān)鍵詞：一個(gè)高速、低DCR SPAD設(shè)計(jì)與仿真

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【摘要】：采用有源淬滅和有源復(fù)位電路,設(shè)計(jì)一種全集成高速、低暗計(jì)數(shù)率(DCR)單光子雪崩二極管探測(cè)器(SPAD)。與被動(dòng)式淬滅電路相比,該結(jié)構(gòu)通過減小流過SPAD的雪崩電荷,以減少后脈沖、熱激發(fā)以及二次雪崩的概率,它可在納秒級(jí)內(nèi)反饋關(guān)斷雪崩并準(zhǔn)備好下一次探測(cè),因而具有更快的相位轉(zhuǎn)換速度、更少的計(jì)數(shù)損失和更高的靈敏度,非常適用于高速、高靈敏度的光子探測(cè)領(lǐng)域。仿真時(shí)采用SPAD的SPICE簡(jiǎn)化模型和MATLAB增強(qiáng)模型,綜合考慮瞬態(tài)特性和暗記數(shù)率特性。
【作者單位】： 天津力神電池股份有限公司;天津大學(xué)仁愛學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 單光子雪崩二極管 蓋革模式 淬滅電路 暗計(jì)數(shù)率
【分類號(hào)】：TN312.7
【正文快照】： 0引言近年來,單光子檢測(cè)技術(shù)在微弱光信號(hào)測(cè)量領(lǐng)域應(yīng)用非常廣泛:緩慢變化的光階可以通過光子計(jì)數(shù)測(cè)量;而快速變化的光波可以通過光子計(jì)時(shí)測(cè)量[1]。可以實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)的器件有很多種,包括電荷耦合器件(Charge-cou-pled Device,CCD)、光電倍增管(Photomul Tiplier Tube,PMT)、

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1 許中園;孫勝利;陸衛(wèi);;用于空間目標(biāo)單光子探測(cè)的SPAD性能定標(biāo)[J];半導(dǎo)體光電;2010年02期

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 涂君虹;大規(guī)模陣列SPAD淬滅電路設(shè)計(jì)[D];東南大學(xué);2015年

2 王成;基于CMOS工藝的蓋革模式SPAD像元電路研究[D];重慶大學(xué);2014年

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本文編號(hào)：823221