發(fā)布時間：2017-09-09 12:03

  本文關鍵詞：可測性設計測試向量低功耗設計方法

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【摘要】：隨著半導體工藝尺寸的不斷縮小和芯片集成度的提高,大規(guī)模、高性能處理器中的測試面臨著許多嚴峻的挑戰(zhàn),其中,測試功耗已經成為大規(guī)模、高性能處理器生產測試中的關鍵性問題。可測性設計中的功耗較常規(guī)功能模式下的的功耗更高,過高的測試功耗高會導致芯片結構損壞、可靠性下降、成品率降低和測試成本增加等問題。可測性設計技術是降低測試成本,提高測試質量的有效手段,但是在對電路進行可測性設計的過程中有可能會造成功耗問題更加嚴重。本研究對可測性設計的低功耗測試向量的X-Fill、時鐘門控、功率分割等低功耗技術進行了介紹和分析,通過開源處理器LEON3作為實例,進行了實用的低功耗測試技術的分析和實驗,提出可測性設計低功耗測試向量的設計方法。
【作者單位】： 中國電子技術標準化研究院集成電路測試與評價工業(yè)和信息化部重點實驗室;北京青鳥元芯微系統(tǒng)科技有限責任公司;
【關鍵詞】： 可測性設計 低功耗 X-Fill 時鐘門控
【基金】：國家重大專項(2012ZX01022-002-002)資助項目
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言測試是集成電路的關鍵技術之一,是集成電路質量保障的主要技術手段。在集成電路芯片廣泛應用于電子信息系統(tǒng)、產品質量需求日益提高的大趨勢下,為提高測試覆蓋率、測試效率,針對大規(guī)模復雜集成電路,可測性設計已經是不可或缺的一項技術。目前,可測性設計測試向量占到了復

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1 葉波，鄭增鈺;可測性設計技術的進展[J];半導體技術;1994年06期

2 祝永明,唐長文,閔昊;全掃描結構可測性設計方法的研究[J];微電子學;2002年03期

3 向東,顧珊,徐奕;基于難測故障沖突分析的非掃描可測性設計[J];清華大學學報(自然科學版);2003年07期

4 魯昌華,蔣薇薇,章其波;淺談數(shù)字電路的可測性設計[J];計算機時代;2003年03期

5 徐萍;康銳;劉松林;;基于充分度的可測性設計理論研究[J];測控技術;2006年08期

6 瞿于福;;邏輯設計的一個新領域—可測性設計[J];軍事通信技術;1987年03期

7 李艷;童詩白;;基于可觀概念的系統(tǒng)故障可測性研究[J];自動化學報;1990年03期

8 陳瑜華，，葉波，鄭增鈺;部分掃描法可測性設計[J];半導體技術;1995年02期

9 托尼·安布勒 ,楊靜玲;可測性設計的經濟性[J];國外電子測量技術;1995年03期

10 葉波;陳瑜華;鄭增鈺;;部分掃描法可測性設計[J];微電子測試;1995年02期

中國重要會議論文全文數(shù)據(jù)庫 前7條

1 張均軍;葉星寧;;一種充電管理芯片的可測性設計[A];四川省電子學會半導體與集成技術專委會2006年度學術年會論文集[C];2006年

2 楊虹;呂坤頤;陳柘宇;侯華敏;;集成電路可測性設計[A];2010通信理論與技術新發(fā)展——第十五屆全國青年通信學術會議論文集（上冊）[C];2010年

3 張勇;;DFDAU可測性設計淺析[A];《IT時代周刊》論文專版（第296期）[C];2014年

4 劉杰;梁華國;;基于末端倒置的PLA可測性設計[A];全國第13屆計算機輔助設計與圖形學（CAD/CG）學術會議論文集[C];2004年

5 雷加;劉偉;;模數(shù)混合信號的可測性設計方法研究[A];中國儀器儀表學會第九屆青年學術會議論文集[C];2007年

6 雷加;蘇波;;基于IEEEll49．4標準TAP控制器的設計[A];2007'中國儀器儀表與測控技術交流大會論文集（一）[C];2007年

7 馮國柱;陳吉華;宋芳芳;張子杰;;高速多端口寄存器文件的可測性設計[A];第十五屆計算機工程與工藝年會暨第一屆微處理器技術論壇論文集（A輯）[C];2011年

中國博士學位論文全文數(shù)據(jù)庫 前6條

1 譚曉棟;面向裝備健康狀態(tài)評估的可測性設計關鍵技術研究[D];國防科學技術大學;2013年

2 朱愛軍;SoC可測性設計中的優(yōu)化理論分析與方法研究[D];西安電子科技大學;2015年

3 楊述明;面向裝備健康管理的可測性技術研究[D];國防科學技術大學;2012年

4 徐磊;基于SOC架構的可測性設計方法學研究[D];清華大學;2002年

5 潘張鑫;或—符合邏輯系統(tǒng)的可測性設計與測試[D];浙江大學;2007年

6 孫強;VLSI高層次綜合中可測性和低功耗設計方法研究[D];哈爾濱工程大學;2009年

中國碩士學位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 任強;可編程邏輯器件的可測性設計與驗證平臺的搭建[D];電子科技大學;2014年

2 施文龍;基于CCM3108的可測性設計研究[D];福州大學;2013年

3 舒昶;特種芯片集成中的可測性設計[D];中國科學院研究生院（電子學研究所）;2002年

4 王俊;集成電路可測性設計的研究與實踐[D];西安電子科技大學;2013年

5 鄭秋麗;系統(tǒng)芯片可測性設計技術的研究[D];長春理工大學;2009年

6 王義琴;基于多信號模型的電子系統(tǒng)可測性算法及軟件設計[D];電子科技大學;2010年

7 董方元;寄存器文件的可測性設計與實現(xiàn)[D];復旦大學;2011年

8 陳業(yè)榮;系統(tǒng)級芯片的可測性設計研究[D];吉林大學;2007年

9 張磊;一種基于掃描陣列的快速低功耗可測性設計方法[D];哈爾濱工程大學;2007年

10 龐偉區(qū);數(shù)模混合信號芯片的測試與可測性設計研究[D];湖南大學;2008年

本文編號：820320