本文關鍵詞：隨機電報信號噪聲時間參數(shù)的提取方法

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【摘要】：隨機電報信號(RTS)噪聲是表征短溝道MOS器件可靠性的重要敏感參數(shù),利用RTS噪聲可確定半導體器件內部陷阱的位置。為了能夠準確提取RTS噪聲信號的時間特征參量,采用了經(jīng)驗模態(tài)分解(EMD)方法處理器件內部被激發(fā)的本征低頻噪聲信號,并提出了利用能量等效的方法對RTS噪聲的時間參量進行提取。實驗結果表明,噪聲的濾波效果優(yōu)于傳統(tǒng)的算法,降低了系統(tǒng)的背景噪聲,相同采樣點時,參量提取的誤差比傳統(tǒng)方法可減小40%,相同精度時,采樣點僅為傳統(tǒng)方法采樣數(shù)目的 1/20,提高了提取參量的靈敏度。
【作者單位】： 東北電力大學信息工程學院;中國煙草總公司湖南省公司;長春理工大學電子信息工程學院;
【關鍵詞】： 隨機電報信號(RTS)噪聲 能量等效 EMD算法 短溝道MOS器件 可靠性
【基金】：國家自然科學基金資助項目(61271115)
【分類號】：TN386
【正文快照】： 0引言隨機電報信號(RTS)噪聲是對MOS器件邊界陷阱進行非破壞性研究的唯一手段[1],也是表征短溝道器件可靠性的重要敏感參數(shù)[2-3],而研究RTS噪聲關鍵在于對RTS噪聲模型的建立[4-5]。國外通常是建立基于陷阱捕獲與發(fā)射時間參量的RTS噪聲模型[6-7],然而在對其時間參數(shù)的提取中,往

【相似文獻】

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本文編號：767308