發(fā)布時(shí)間：2017-08-31 14:23

  本文關(guān)鍵詞：紅外掃描過采樣系統(tǒng)點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)性能分析與仿真

  更多相關(guān)文章： 遙感 圖像處理 過采樣 紅外掃描 圖像仿真 點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)

【摘要】：過采樣是為提高遙感掃描圖像分辨率而提出的一種新的成像體制,為將其應(yīng)用于紅外搜索與跟蹤系統(tǒng),需研究過采樣對(duì)系統(tǒng)點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)性能的影響.從掃描成像原理角度對(duì)比分析常規(guī)采樣和過采樣的特點(diǎn);基于高分辨率圖像退化方式給出掃描圖像仿真方法;通過仿真掃描圖像進(jìn)行單幀目標(biāo)檢測(cè)處理,對(duì)比分析兩種采樣體制下的系統(tǒng)點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)性能.結(jié)果表明,在相同條件下,過采樣系統(tǒng)點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)性能優(yōu)于常規(guī)采樣;常規(guī)采樣掃描圖像中目標(biāo)一般呈現(xiàn)1×1點(diǎn)狀,而過采樣掃描圖像中目標(biāo)呈現(xiàn)斑點(diǎn)狀,利用該特性可進(jìn)一步提升過采樣系統(tǒng)目標(biāo)檢測(cè)性能.
【作者單位】： 上海衛(wèi)星工程研究所;國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 遙感 圖像處理 過采樣 紅外掃描 圖像仿真 點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)
【分類號(hào)】：TP391.41;TN219
【正文快照】： 1引言掃描相機(jī)探測(cè)視場(chǎng)大、覆蓋范圍廣、空間分辨率高,在航空航天遙感領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用.為進(jìn)一步提高掃描相機(jī)空間分辨率,法國(guó)研究人員提出了一種新的雙向過采樣掃描成像體制,并成功應(yīng)用于SPOT遙感衛(wèi)星[1].該體制不改變光學(xué)系統(tǒng)配置,只在常規(guī)一排線陣像元基礎(chǔ)上再增加一排像元,

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 江濤,王永仲;空時(shí)級(jí)聯(lián)濾波紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)[J];光電工程;2004年12期

2 過潤(rùn)秋,李大鵬,林曉春;紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)的小波變換方法研究[J];光子學(xué)報(bào);2004年04期

3 劉志剛,盧煥章,陳輝煌;一種低信噪比下點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)新算法[J];系統(tǒng)工程與電子技術(shù);2004年11期

4 張弘,趙保軍,史彩成,毛二可;一種快速實(shí)時(shí)的低信噪比紅外點(diǎn)、斑點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)方法[J];北京理工大學(xué)學(xué)報(bào);2001年03期

5 李大鵬,陶觀群;基于子波相關(guān)算法的紅外圖像點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)[J];紅外;2002年12期

6 李大鵬,過潤(rùn)秋,陶觀群;基于子波相關(guān)算法的紅外圖像點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)( 英文)[J];紅外技術(shù);2003年02期

7 江濤,王永仲;基于雙遞歸均值濾波的紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)[J];電光與控制;2004年03期

8 劉志軍;鄭兆青;桑紅石;;基于跳躍馬爾可夫模型的紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)方法[J];華中科技大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2007年01期

9 江濤,王永仲;基于改進(jìn)遞歸最大值濾波的紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)[J];紅外技術(shù);2004年03期

10 曹琦;王德江;張齊;畢篤彥;;紅外點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)中的能量累積[J];光學(xué)精密工程;2010年03期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 洪普;王群;阮建斌;郭曉東;;復(fù)雜背景紅外弱點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)[A];中國(guó)光學(xué)學(xué)會(huì)2010年光學(xué)大會(huì)論文集[C];2010年

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 蓋芳?xì)J;星上紅外運(yùn)動(dòng)點(diǎn)目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)研究[D];中國(guó)科學(xué)院研究生院（空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心）;2010年

，

本文編號(hào)：766100