本文關(guān)鍵詞：JT54LS273型集成電路加速壽命試驗(yàn)研究

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【摘要】：本文介紹了加速壽命試驗(yàn)中最為常用的阿倫尼斯模型,并按該模型選擇JT54LS273型集成電路變化最大的關(guān)鍵參數(shù),求得元器件在常溫貯存時(shí)的數(shù)學(xué)模型,以常溫貯存數(shù)據(jù)作為評價(jià)元器件加速貯存壽命的主要依據(jù)。選擇同型號、同品種的元器件,進(jìn)行高溫加速貯存試驗(yàn)與常溫貯存試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,并建立加速貯存試驗(yàn)?zāi)Ｐ�。得出同一型號同一品種器件的高溫貯存加速因子、高溫貯存試驗(yàn)時(shí)間,提前得出器件長期貯存試驗(yàn)數(shù)據(jù),以判斷器件是否滿足儲存期要求,并給出試驗(yàn)結(jié)論。
【作者單位】： 天水天光半導(dǎo)體有限公司;
【關(guān)鍵詞】： 集成電路 阿倫尼斯模型 高溫貯存
【分類號】：TN40
【正文快照】： 1概述長期以來,電子元器件經(jīng)過長期貯存后出現(xiàn)主要參數(shù)漂移、材料性能下降等一系列問題,因此高可靠、長壽命元器件的量化評估一直是可靠性工程領(lǐng)域的一個(gè)技術(shù)難題。通常采用的壽命試驗(yàn)方法不僅需要耗費(fèi)大量的試驗(yàn)時(shí)間、人力和物力,而且經(jīng)長時(shí)間試驗(yàn)后出來的結(jié)果可能已經(jīng)失去了

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本文編號：676870