本文關(guān)鍵詞：可控硅全橋整流故障診斷與可靠觸發(fā)系統(tǒng)設(shè)計

  更多相關(guān)文章： 全橋整流 過零檢測 故障診斷 可控硅觸發(fā) 聯(lián)鎖控制

【摘要】：可控硅全橋整流觸發(fā)器用于產(chǎn)生觸發(fā)脈沖信號以實現(xiàn)交流電到直流電的轉(zhuǎn)換,是完成整流的關(guān)鍵控制器件,其質(zhì)量優(yōu)劣直接關(guān)系到整流裝置能否正常運行。在與企業(yè)合作的過程中,發(fā)現(xiàn)如下問題:電壓過零檢測不夠準(zhǔn)確、電網(wǎng)干擾較大時存在誤觸發(fā)和漏脈沖、故障發(fā)生后不能及時保護且難以確定具體故障原因等。針對以上問題,課題完成了以下工作:(1)過零時刻的準(zhǔn)確識別。根據(jù)干擾情況,設(shè)計了恒流二極管電壓過零檢測電路,分析了傳統(tǒng)RC濾波電路存在的不足,結(jié)合過零信號的特征,提出了一種濾波算法,根據(jù)干擾的時刻和寬度確定過零點的正確發(fā)生時刻。(2)故障診斷與故障下的觸發(fā)策略。針對缺相故障,分析了在不同故障時刻過零信號的變化情況,提出了缺相狀態(tài)下的校正策略。針對周期異常、相位偏移等故障,分析了故障對整流輸出電壓的影響,確定了故障相關(guān)極限參數(shù)并提出了故障下的觸發(fā)策略,實現(xiàn)了保護。(3)可靠觸發(fā)控制。分析了單相過零信號移相方式存在漏發(fā)脈沖的原因,提出了一種三相過零信號的限幅定時移相方法。根據(jù)可控硅觸發(fā)時序關(guān)系和相互間的關(guān)斷聯(lián)鎖,設(shè)計了整流脈沖聯(lián)鎖控制邏輯。最后,搭建試驗平臺進行了測試,觀測和分析了過零信號、可控硅觸發(fā)波形、整流輸出電壓波形以及移相過程中觸發(fā)脈沖的變化情況,結(jié)果表明:觸發(fā)器運行穩(wěn)定,能夠可靠實現(xiàn)整流控制邏輯。
【關(guān)鍵詞】：全橋整流 過零檢測 故障診斷 可控硅觸發(fā) 聯(lián)鎖控制
【學(xué)位授予單位】：重慶大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN34;TN783
【目錄】：

• 中文摘要3-4
• 英文摘要4-8
• 1 緒論8-11
• 1.1 課題背景及意義8
• 1.2 可控硅全橋整流觸發(fā)器發(fā)展現(xiàn)狀8-10
• 1.3 本文主要研究工作10-11
• 2 電壓過零信號的檢測與濾波算法設(shè)計11-28
• 2.1 實現(xiàn)準(zhǔn)確過零檢測的必要性11
• 2.2 過零檢測電路可靠性設(shè)計11-18
• 2.2.1 幾種過零檢測電路比較11-15
• 2.2.2 基于恒流管的過零檢測電路15-18
• 2.3 過零檢測濾波算法設(shè)計18-27
• 2.3.1 過零信號特征18-19
• 2.3.2 傳統(tǒng)RC濾波缺陷分析19-20
• 2.3.3 濾波算法設(shè)計20-26
• 2.3.4 效果仿真26-27
• 2.4 本章小結(jié)27-28
• 3 故障診斷與故障下的觸發(fā)策略28-42
• 3.1 電源故障對整流的影響28-29
• 3.1.1 周期異常和相位偏移的影響28-29
• 3.1.2 過零干擾的影響29
• 3.2 故障極限參數(shù)的確定29-32
• 3.2.1 相位不平衡參數(shù)確定及識別30-31
• 3.2.2 供電頻率和噪聲極限參數(shù)確定31-32
• 3.3 相序識別研究32-37
• 3.3.1 正反相序特性分析32-33
• 3.3.2 傳統(tǒng)相序識別方法分析33-34
• 3.3.3 本課題相序識別方法34
• 3.3.4 缺相識別34-37
• 3.4 故障下的觸發(fā)策略37-41
• 3.4.1 缺相對過零信號的影響37-38
• 3.4.2 缺相校正措施38-40
• 3.4.3 故障處理40-41
• 3.5 本章小結(jié)41-42
• 4 移相控制策略研究42-51
• 4.1 傳統(tǒng)移相控制策略分析42-43
• 4.2 整流角的識別研究43-44
• 4.2.1 整流對觸發(fā)角的要求43
• 4.2.2 整流角的限幅方法43-44
• 4.3 觸發(fā)時刻的計算44-46
• 4.4 整流觸發(fā)脈沖聯(lián)鎖策略46-50
• 4.4.1 換流時序分析46-48
• 4.4.2 觸發(fā)脈沖聯(lián)鎖策略48-50
• 4.5 本章小結(jié)50-51
• 5 試驗及分析51-55
• 5.1 試驗環(huán)境及波形分析51-54
• 5.1.1 試驗環(huán)境51-52
• 5.1.2 波形分析52-54
• 5.2 本章小結(jié)54-55
• 6 結(jié)論及展望55-56
• 6.1 結(jié)論55
• 6.2 展望55-56
• 致謝56-57
• 參考文獻57-59
• 附錄59
• A. 作者在攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的專利目錄59
• B. 作者在攻讀學(xué)位期間取得的工作成果目錄59

【參考文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

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2 李春云;魏英;;運算放大器參數(shù)誤差分析及設(shè)計應(yīng)用[J];數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用;2012年08期

3 何安琴;陳世明;;可控硅控制器在電加熱系統(tǒng)中的應(yīng)用[J];自動化與儀器儀表;2009年03期

4 郝浩;李宏;;基于單片機的晶閘管觸發(fā)器的設(shè)計[J];電子設(shè)計工程;2009年02期

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本文編號：669962