速調(diào)管中二次電子引起的雜譜和高頻包絡(luò)塌肩研究
本文關(guān)鍵詞:速調(diào)管中二次電子引起的雜譜和高頻包絡(luò)塌肩研究
更多相關(guān)文章: 速調(diào)管 二次電子 高頻包絡(luò) 雜譜
【摘要】:描述了一個(gè)寬帶多注速調(diào)管研制過(guò)程中出現(xiàn)的雜譜和高頻包絡(luò)塌肩現(xiàn)象,分析這些現(xiàn)象是由諧振腔二次電子諧振和二次電子內(nèi)反饋引起的,本文根據(jù)消除二次電子諧振的方法提出了消除或抑制雜譜和高頻包絡(luò)塌肩的方法。文章中提出的方法已經(jīng)被應(yīng)用在速調(diào)管設(shè)計(jì)中,并經(jīng)熱測(cè)試驗(yàn)驗(yàn)證行之有效。
【作者單位】: 中國(guó)科學(xué)院電子學(xué)研究所中國(guó)科學(xué)院高功率微波源與技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】: 速調(diào)管 二次電子 高頻包絡(luò) 雜譜
【分類(lèi)號(hào)】:TN122
【正文快照】: 大功率速調(diào)管作為一種功率放大器件,它的工作穩(wěn)定性和輸出頻譜質(zhì)量對(duì)整機(jī)系統(tǒng)的性能有重要影響。在速調(diào)管的實(shí)際研制中,尤其對(duì)于寬帶多注速調(diào)管,其直流狀態(tài)下的振蕩和高頻狀態(tài)下的雜譜與高頻包絡(luò)異常是影響速調(diào)管性能的重要因素[1]。寬帶多注速調(diào)管的帶寬由輸出帶寬和群聚帶寬
【相似文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條
1 羅遂初;宋宜純;吳自勤;張永勝;;用蒙特卡羅法計(jì)算二次電子的產(chǎn)額、能量分布和角分布[J];電子顯微學(xué)報(bào);1986年03期
2 孫學(xué)民;陳德森;;一種實(shí)用的二次電子測(cè)試管[J];真空電子技術(shù);1988年02期
3 陳文雄;;集成電路掃描電鏡檢測(cè)中的二次電子分析器的計(jì)算機(jī)模擬[J];電子顯微學(xué)報(bào);1990年02期
4 李華,丁澤軍,吳自勤;出射二次電子表面分布的多重分形譜[J];電子顯微學(xué)報(bào);1994年03期
5 松浦惠樹(shù);吳茂林;;微通道板及其應(yīng)用[J];應(yīng)用光學(xué);1986年03期
6 楊玉勤;;微通道板及其應(yīng)用[J];現(xiàn)代兵器;1986年04期
7 汪春華;李維勤;;金屬樣品掃描電鏡二次電子特性蒙特卡洛模擬[J];固體電子學(xué)研究與進(jìn)展;2014年04期
8 陳世紅;胡茲莆;;Monte-Carlo法探討掃描電鏡中絕緣樣品的負(fù)荷問(wèn)題[J];電子顯微學(xué)報(bào);1989年01期
9 胡宗高;YWD—1A型掃描電鏡的二次電子探測(cè)器[J];云南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);1980年00期
10 鄒家祥;;在電子轟擊下,微波管輸出窗的受熱情況[J];真空電子技術(shù);1962年05期
中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條
1 羅遂初;宋宜純;吳自勤;張永勝;;用蒙特卡羅法計(jì)算二次電子的產(chǎn)額、能量分布和角分布[A];第四次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集[C];1986年
中國(guó)重要報(bào)紙全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條
1 中科院院士 陳星弼;愿第二次電子革命發(fā)生在中國(guó)[N];光明日?qǐng)?bào);2001年
中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條
1 應(yīng)旭華;減小和抑制二次電子倍增效應(yīng)研究[D];華北電力大學(xué)(北京);2009年
,本文編號(hào):648514
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/648514.html