本文關(guān)鍵詞：基于邊界掃描技術(shù)實(shí)現(xiàn)電路板全面測(cè)試

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【摘要】：板級(jí)邊界掃描測(cè)試技術(shù),也就是IEEE-1149.1標(biāo)準(zhǔn)在電子行業(yè)得到了廣泛的認(rèn)可。對(duì)于一個(gè)特定的電路設(shè)計(jì)項(xiàng)目,為了實(shí)現(xiàn)最高的測(cè)試覆蓋率和最優(yōu)的測(cè)試性能,詳盡的可測(cè)試性分析是不可或缺的。邊界掃描的可測(cè)試性設(shè)計(jì)不僅僅是選擇支持JTAG掃描鏈的芯片及設(shè)定芯片特定引腳這么簡(jiǎn)單,還需要關(guān)注邊界掃描芯片周圍的邏輯器件或存儲(chǔ)器的簇測(cè)試。本文描述了邊界掃描進(jìn)行電路板測(cè)試的常用測(cè)試項(xiàng)并提出利用邊界掃描技術(shù)提高測(cè)試覆蓋率的一些方法。
【作者單位】： 北京泛華恒興科技有限公司;
【關(guān)鍵詞】： 邊界掃描 互聯(lián)測(cè)試 簇測(cè)試
【分類號(hào)】：TN407
【正文快照】： 1　引　言應(yīng)用。掃描鏈測(cè)試是測(cè)試邊界掃描器件邊界掃描技術(shù)(與I E E E2　邊界掃描互聯(lián)測(cè)試是否焊接完好,這是基于邊界掃描技114 9.1,J TA G同義)如今已被越來(lái)2.1　板級(jí)邊界掃描互聯(lián)測(cè)試術(shù)完成測(cè)試的基礎(chǔ),如圖1所示,為一越多的電子工程師所了解,本文旨通常情況下,今天的數(shù)字電

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