本文關(guān)鍵詞：基于SHC3206的芯片自動化測試平臺設(shè)計與實現(xiàn)

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【摘要】：隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展,作為該產(chǎn)業(yè)重要一環(huán)的功能測試也被寄予越來越高的要求。如何高效率、低成本地完成芯片功能測試已經(jīng)成為很多集成電路設(shè)計公司必須面對的問題。由于芯片封裝各異,且功能繁雜,一套具備通用性的自動化芯片功能測試平臺可以獲得良好的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。因?qū)嵙?xí)公司項目需要,本文設(shè)計并實現(xiàn)了一套自動化芯片功能測試平臺,該平臺包含以下三部分:(1)一套具有較高通用性的芯片自動測試平臺控制系統(tǒng)。(2)基于windows的測試平臺的上位機(jī)軟件。(3)一款基于SHC3206芯片的測試電路板。該平臺不僅降低了公司在芯片功能測試方面的人工成本,而且大幅縮短了測試時間。圍繞該芯片測試平臺,本文所做的工作主要有以下幾個方面:1.設(shè)計并實現(xiàn)了芯片自動測試平臺控制系統(tǒng)。本文根據(jù)機(jī)械設(shè)備生產(chǎn)廠家提供的電機(jī)參數(shù)及機(jī)械圖紙尺寸,自行設(shè)計了一套測試平臺控制系統(tǒng)。該系統(tǒng)由控制電路板和控制程序兩部分組成,具有系統(tǒng)自檢、自動復(fù)位校準(zhǔn)、容錯處理以及安全碰撞檢測等功能,具備較高的通用性和靈活性。通過反復(fù)聯(lián)調(diào)測試結(jié)果顯示,該系統(tǒng)能夠長期安全穩(wěn)定運(yùn)行。2.設(shè)計并實現(xiàn)了基于windows的測試系統(tǒng)上位機(jī)軟件。為了保證測試系統(tǒng)的通用性,本文設(shè)計并實現(xiàn)了一套能夠和測試平臺控制系統(tǒng)進(jìn)行實時通信的上位機(jī)軟件。利用測試平臺控系統(tǒng)中預(yù)留的串口,上位機(jī)不僅能夠?qū)崟r獲取測試數(shù)據(jù)和顯示測試結(jié)果,而且可以對測試系統(tǒng)的基本位移參數(shù)進(jìn)行修改,從而滿足不同封裝芯片的測試需要。3.基于公司一款SHC3206芯片,開發(fā)了功能測試板。該測試板可對芯片的各項功能指標(biāo)進(jìn)行自動測試驗證,其步驟為:首先自動測試平臺將芯片放入測試板進(jìn)行測試;然后測試板在完成該芯片所有功能測試后將測試結(jié)果反饋給測試平臺控制系統(tǒng);最后根據(jù)測試結(jié)果合格與否,測試平臺控制系統(tǒng)將芯片放入不同芯片放置區(qū)域。如此循環(huán)即可完成芯片的批量自動化測試。聯(lián)調(diào)測試結(jié)果顯示,單顆芯片的平均測試時間為2.5秒,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于人工測試時間且沒有人為差錯。因此,該系統(tǒng)可以大大提高芯片的測試效率和測試質(zhì)量。
【關(guān)鍵詞】：芯片功能測試 自動測試 SHC3206測試板 上位機(jī)軟件
【學(xué)位授予單位】：西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN407
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-11
• 符號對照表11-12
• 縮略語對照表12-16
• 第一章 緒論16-20
• 1.1 項目研究背景和意義16-17
• 1.2 芯片自動測試平臺國內(nèi)外應(yīng)用現(xiàn)狀17-18
• 1.3 論文主要工作和章節(jié)安排18-20
• 第二章 芯片自動測試平臺總體設(shè)計20-24
• 2.1 芯片自動測試原理20-21
• 2.2 測試平臺機(jī)械設(shè)備介紹21-22
• 2.3 芯片自動測試平臺架構(gòu)設(shè)計22
• 2.4 芯片自動化測試流程22-23
• 2.5 小結(jié)23-24
• 第三章 芯片自動測試平臺控制系統(tǒng)設(shè)計24-46
• 3.1 控制系統(tǒng)硬件總體方案設(shè)計24-26
• 3.2 控制系統(tǒng)硬件電路模塊設(shè)計26-40
• 3.2.1 電源管理分配網(wǎng)絡(luò)電路設(shè)計26-29
• 3.2.2 MCU最小系統(tǒng)設(shè)計29-32
• 3.2.3 傳感器模塊接口電路設(shè)計32-34
• 3.2.4 電機(jī)驅(qū)動電路設(shè)計34-38
• 3.2.5 電磁閥驅(qū)動電路設(shè)計38-39
• 3.2.6 通信接口電路設(shè)計等39-40
• 3.3 控制程序設(shè)計40-42
• 3.3.1 控制程序流程設(shè)計40-41
• 3.3.2 電機(jī)加減速控制程序設(shè)計41-42
• 3.4 系統(tǒng)錯誤檢測與優(yōu)化方法42-43
• 3.5 軟硬件聯(lián)調(diào)測試結(jié)果分析43-44
• 3.6 小結(jié)44-46
• 第四章 芯片自動測試平臺上位機(jī)軟件開發(fā)46-56
• 4.1 上位機(jī)軟件功能需求46-47
• 4.2 上位機(jī)軟件流程及設(shè)計實現(xiàn)47-50
• 4.3 上位機(jī)軟件的模塊介紹50-54
• 4.3.1 通信設(shè)置模塊50-51
• 4.3.2 參數(shù)設(shè)置模塊51-52
• 4.3.3 速度設(shè)置模塊52-53
• 4.3.4 手動調(diào)試模塊53
• 4.3.5 運(yùn)行信息控制模塊53-54
• 4.4 小結(jié)54-56
• 第五章 SHC3206測試板設(shè)計56-74
• 5.1 SHC3206芯片介紹56-57
• 5.2 SHC3206芯片測試方案57-58
• 5.3 SHC3206自動測試板硬件電路設(shè)計58-65
• 5.3.1 測試板硬件方案設(shè)計58-59
• 5.3.2 測試板電源管理設(shè)計方案59-61
• 5.3.3 測試板高速差分線路設(shè)計及信號完整性分析61-62
• 5.3.4 測試板控制電路設(shè)計62-63
• 5.3.5 I2C總線設(shè)計及注意事項63-65
• 5.4 測試板MCU控制程序開發(fā)65-66
• 5.5 測試板FPGA Verilog程序設(shè)計66-71
• 5.5.1 FPGA信號編碼算法67-70
• 5.5.2 FPGA信號解碼算法70-71
• 5.6 小結(jié)71-74
• 第六章 總結(jié)和展望74-76
• 6.1 總結(jié)74
• 6.2 展望74-76
• 參考文獻(xiàn)76-78
• 致謝78-80
• 作者簡介80-81

【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 徐亞茹;陸靜平;;步進(jìn)電動機(jī)快速平穩(wěn)起動控制算法研究[J];微特電機(jī);2014年08期

2 王洪軍;;小議視頻信號接口[J];才智;2014年15期

3 郭登科;劉衛(wèi)東;;HDMI轉(zhuǎn)TTL信號轉(zhuǎn)換電路系統(tǒng)設(shè)計[J];自動化技術(shù)與應(yīng)用;2014年02期

4 寧凡;郭志宏;鄭驊;;基于MSP413單片機(jī)的熱量表檢測系統(tǒng)的研制與開發(fā)[J];軟件工程師;2014年01期

5 崔潔;楊凱;肖雅靜;顏向乙;;步進(jìn)電機(jī)加減速曲線的算法研究[J];電子工業(yè)專用設(shè)備;2013年08期

6 王娟;楊明武;;傳輸線上反射與串?dāng)_的仿真分析[J];合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);2012年02期

7 徐志躍;;隔離放大器及其應(yīng)用[J];實驗技術(shù)與管理;2011年06期

8 何偉;陳永強(qiáng);;C#的文件處理研究與實例分析[J];電腦知識與技術(shù);2009年21期

9 俞建峰;陳翔;楊雪瑛;;我國集成電路測試技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展策略[J];中國測試;2009年03期

10 姜德美;謝守勇;甘露萍;;步進(jìn)電機(jī)啟動控制算法設(shè)計[J];西南大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版);2007年05期

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本文編號：547731