本文關(guān)鍵詞：納米CMOS電路在單粒子效應(yīng)下可靠性研究進(jìn)展

  更多相關(guān)文章： 單粒子效應(yīng)(SEE) 可靠性 納電子器件 抗輻射加固 損傷機理

【摘要】：隨著特征尺寸的不斷縮減,器件結(jié)電容減少、工作電壓降低,使納米CMOS電路對單粒子效應(yīng)(SEE)更加敏感,同時伴隨著明顯的單粒子串?dāng)_、多結(jié)點翻轉(zhuǎn)等現(xiàn)象,嚴(yán)重影響其工作可靠性�；诩{米CMOS電路在SEE下的可靠性,從基本電離損傷機理、SEE對電路的影響、可靠性評估及抗輻射加固設(shè)計等幾個方面分析了最新的研究進(jìn)展,最后指出了幾個未來可能研究的焦點,包括:新材料和新結(jié)構(gòu)器件的SEE研究、CMOS電路的抗輻射加固設(shè)計研究,特別是抗單粒子瞬態(tài)的加固研究及納米CMOS電路的單粒子閂鎖和燒毀機理、仿真及加固研究等。
【作者單位】： 空軍第一航空學(xué)院;空軍工程大學(xué)理學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 單粒子效應(yīng)(SEE) 可靠性 納電子器件 抗輻射加固 損傷機理
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項目(11405270,61172043)
【分類號】：TN432
【正文快照】： 0引言隨著空間技術(shù)、核科學(xué)和微納電子技術(shù)的快速發(fā)展,微處理器和混頻器等器件越來越多地被廣泛應(yīng)用于航空和航天等領(lǐng)域,經(jīng)受著惡劣空間輻射或核輻射環(huán)境的嚴(yán)重考驗[1]。近年來,國內(nèi)外航天器故障的最新統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示,在空間環(huán)境導(dǎo)致的航天器故障中,由單粒子效應(yīng)(single event e

【參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 陳建軍;陳書明;梁斌;劉必慰;;Negative bias temperature instability induced single event transient pulse narrowing and broadening[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2010年12期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 劉必慰;集成電路單粒子效應(yīng)建模與加固方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2009年

【共引文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 ;Modeling to predict the time evolution of negative bias temperature instability(NBTI) induced single event transient pulse broadening[J];Science China(Technological Sciences);2012年04期

2 王璐;楊瑞強;;基于FPGA的嵌入式加固系統(tǒng)設(shè)計[J];現(xiàn)代電子技術(shù);2014年18期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前5條

1 孫巖;納米集成電路軟錯誤分析與緩解技術(shù)研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

2 范雪;一種新型反熔絲存儲器的研制及其抗輻射加固方法研究[D];電子科技大學(xué);2011年

3 孫鵬;電子元器件輻射退化靈敏表征方法研究[D];西安電子科技大學(xué);2013年

4 王麗云;FPGA設(shè)計及其關(guān)鍵電路輻射加固方法研究[D];復(fù)旦大學(xué);2012年

5 余永濤;脈沖激光模擬SRAM單粒子效應(yīng)的試驗研究[D];中國科學(xué)院研究生院(空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心);2015年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 宋大建;MOS器件單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)研究[D];西安電子科技大學(xué);2011年

2 程和遠(yuǎn);超高速二分頻器電路的設(shè)計及其γ輻射研究[D];西安電子科技大學(xué);2011年

3 宋超;邏輯電路軟錯誤率評估模型設(shè)計與實現(xiàn)[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

4 易偉;一種基于NAND Flash存儲器的抗輻射軟件加固方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2011年

5 金作霖;柵氧退化效應(yīng)下SRAM軟錯誤分析與加固技術(shù)研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2011年

6 杜延康;組合電路SET若干效應(yīng)及軟錯誤率分析[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2011年

7 何偉;SRAM型FPGA單粒子故障傳播特性與測試方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2011年

8 王振;抗輻射加固SRAM設(shè)計與測試[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2010年

9 邵隆;超深亞微米器件單粒子翻轉(zhuǎn)率計算方法研究[D];西安電子科技大學(xué);2013年

10 劉菁;超深亞微米器件單粒子輻射新效應(yīng)的物理機理研究[D];西安電子科技大學(xué);2013年

【二級參考文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 邢克飛;王躍科;扈嘯;;銀河飛騰DSP芯片總劑量輻照試驗研究[J];半導(dǎo)體技術(shù);2006年07期

2 王長河;單粒子效應(yīng)對衛(wèi)星空間運行可靠性影響[J];半導(dǎo)體情報;1998年01期

3 賀朝會,李國政,羅晉生,劉恩科;CMOS SRAM單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的解析分析[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2000年02期

4 韓鄭生,周小茵,海潮和,劉忠立,吳德馨;CMOS/SOI64Kb靜態(tài)隨機存儲器[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2001年01期

5 劉必慰;陳書明;梁斌;;一種新型的低功耗SEU加固存儲單元[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2007年05期

6 趙凱;劉忠立;于芳;高見頭;肖志強;洪根深;;抗輻射128kb PDSOI靜態(tài)隨機存儲器[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2007年07期

7 梁斌;陳書明;劉必慰;;溫度對數(shù)字電路中單粒子瞬態(tài)脈沖的影響[J];半導(dǎo)體學(xué)報;2008年07期

8 劉新宇,孫海峰,劉洪民,韓鄭生,海潮和;CMOS/SOI 4kb靜態(tài)隨機存儲器[J];功能材料與器件學(xué)報;2002年02期

9 江建慧,員春欣;芯片級系統(tǒng)的在線測試技術(shù)[J];計算機研究與發(fā)展;2004年09期

10 黃海林;唐志敏;許彤;;龍芯1號處理器的故障注入方法與軟錯誤敏感性分析[J];計算機研究與發(fā)展;2006年10期

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 郭紅霞;集成電路電離輻射效應(yīng)數(shù)值模擬及X射線劑量增強效應(yīng)的研究[D];西安電子科技大學(xué);2001年

【相似文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 郭紅霞,陳雨生,周輝,賀朝會,耿斌,李永宏;重離子微束單粒子翻轉(zhuǎn)與單粒子燒毀效應(yīng)數(shù)值模擬[J];計算物理;2003年05期

2 薛玉雄;曹洲;楊世宇;;激光模擬單粒子效應(yīng)試驗研究[J];航天器環(huán)境工程;2006年02期

3 宋欽岐;單粒子效應(yīng)[J];微電子學(xué)與計算機;1989年12期

4 董攀;陳莉明;范隆;岳素格;鄭宏超;王興友;;Spacewire通訊路由器單粒子功能中斷測試系統(tǒng)研究[J];微電子學(xué)與計算機;2014年04期

5 韓建偉;張振龍;封國強;馬英起;;單粒子鎖定極端敏感器件的試驗及對我國航天安全的警示[J];航天器環(huán)境工程;2008年03期

6 田愷;曹洲;薛玉雄;楊世宇;周新發(fā);劉群;彭飛;;反熔絲型現(xiàn)場可編程門陣列單粒子鎖定實驗研究[J];原子能科學(xué)技術(shù);2009年09期

7 姚志斌;范如玉;郭紅霞;王忠明;何寶平;張鳳祁;張科營;;靜態(tài)單粒子翻轉(zhuǎn)截面的獲取及分類[J];強激光與粒子束;2011年03期

8 馮小剛;李儒章;劉佳;周前能;譚智琴;徐輝;劉明;;基于標(biāo)準(zhǔn)工藝的抗單粒子數(shù)字單元設(shè)計方法[J];微電子學(xué);2014年02期

9 曹洲,楊世宇,達(dá)道安;功率MOSFET單粒子燒毀測試技術(shù)研究[J];真空與低溫;2004年01期

10 薛玉雄;田愷;曹洲;楊生勝;馬亞莉;;激光模擬單粒子效應(yīng)設(shè)備及試驗研究進(jìn)展綜述[J];航天器環(huán)境工程;2010年03期

中國重要會議論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 賀朝會;李永宏;楊海亮;;單粒子效應(yīng)輻射模擬實驗研究進(jìn)展[A];第一屆中國核技術(shù)及應(yīng)用研究學(xué)術(shù)研討會摘要文集[C];2006年

2 耿超;劉杰;侯明東;孫友梅;段敬來;姚會軍;張戰(zhàn)剛;莫丹;羅捷;;基于RPP模型的單粒子在軌翻轉(zhuǎn)率計算[A];第二十四屆全國空間探測學(xué)術(shù)交流會論文摘要集[C];2011年

3 侯明東;劉杰;孫友梅;段敬來;常海龍;張戰(zhàn)剛;莫丹;;宇航器件單粒子效應(yīng)的加速器地面模擬[A];第七屆中國核學(xué)會“三核”論壇中國放射醫(yī)學(xué)教育五十年暨中國毒理學(xué)會放射毒理委員會第八次全國會議論文集[C];2010年

4 侯明東;劉杰;李保權(quán);甄紅樓;;單粒子效應(yīng)實驗中的幾個關(guān)鍵技術(shù)問題[A];中國空間科學(xué)學(xué)會空間探測專業(yè)委員會第十二次學(xué)術(shù)會議論文集[C];1999年

5 張慶祥;侯明東;劉杰;王志光;金運范;朱智勇;孫友梅;宋銀;段敬來;;混合離子加速技術(shù)在單粒子效應(yīng)和探測器標(biāo)定實驗中的應(yīng)用[A];中國空間科學(xué)學(xué)會空間探測專業(yè)委員會第十五次學(xué)術(shù)會議論文集[C];2002年

6 黃建國;韓建偉;張慶祥;黃治;陳東;李小銀;張振龍;;脈沖激光模擬單粒子效應(yīng)機理研究[A];第十一屆全國日地空間物理學(xué)術(shù)討論會論文摘要集[C];2005年

7 劉杰;;元器件單粒子效應(yīng)的加速器地面測試研究[A];中國空間科學(xué)學(xué)會第七次學(xué)術(shù)年會會議手冊及文集[C];2009年

8 李保權(quán);侯明東;劉杰;朱光武;王世金;梁金寶;孫越強;張微;翟應(yīng)應(yīng);黃紅錦;沈思忠;高平;;加速器模擬單粒子效應(yīng)研究[A];實踐五號衛(wèi)生空間探測與試驗成果學(xué)術(shù)會議論文集[C];2002年

9 路秀琴;劉建成;郭繼宇;郭剛;沈東軍;惠寧;張慶祥;張振龍;韓建偉;;重離子單粒子效應(yīng)靈敏體積及電荷收集研究[A];第一屆中國核技術(shù)及應(yīng)用研究學(xué)術(shù)研討會摘要文集[C];2006年

10 張戰(zhàn)剛;劉杰;侯明東;孫友梅;常海龍;段敬來;莫丹;姚會軍;;元器件單粒子效應(yīng)加速器試驗中的新現(xiàn)象[A];第二十三屆全國空間探測學(xué)術(shù)交流會論文摘要集[C];2010年

中國博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前5條

1 邢克飛;星載信號處理平臺單粒子效應(yīng)檢測與加固技術(shù)研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2007年

2 古松;基于重離子加速器的SOI SRAM器件單粒子翻轉(zhuǎn)實驗研究[D];中國科學(xué)院研究生院（近代物理研究所）;2015年

3 耿超;微納級SRAM器件單粒子效應(yīng)理論模擬研究[D];中國科學(xué)院研究生院（近代物理研究所）;2014年

4 王忠明;SRAM型FPGA的單粒子效應(yīng)評估技術(shù)研究[D];清華大學(xué);2011年

5 劉必慰;集成電路單粒子效應(yīng)建模與加固方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2009年

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 禹金標(biāo);用于空間探測的電子元器件輻照性能研究[D];鄭州大學(xué);2015年

2 劉征;單粒子效應(yīng)電路模擬方法研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2006年

3 王佩;單粒子效應(yīng)電路模擬方法研究[D];電子科技大學(xué);2010年

4 戴然;單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的模擬和驗證技術(shù)研究[D];電子科技大學(xué);2013年

5 段雪巖;單粒子脈寬抑制和單粒子測試方法研究[D];復(fù)旦大學(xué);2011年

6 張越;槽柵功率MOSFET單粒子效應(yīng)模擬研究[D];哈爾濱工程大學(xué);2013年

7 吳記群;Intel80C31輻射效應(yīng)測試系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)[D];蘭州大學(xué);2007年

8 黃錦杰;抗單粒子翻轉(zhuǎn)SRAM-based FPGA測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計[D];復(fù)旦大學(xué);2011年

9 上官士鵬;脈沖激光模擬試驗數(shù)字器件單粒子效應(yīng)的機理與方法研究[D];中國科學(xué)院研究生院（空間科學(xué)與應(yīng)用研究中心）;2011年

10 史冬霞;數(shù)字集成電路老化預(yù)測及單粒子效應(yīng)研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2013年

，

本文編號：540126