本文關(guān)鍵詞：最大近似相容的分組測(cè)試向量相容壓縮方法

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【摘要】：針對(duì)長度過長的測(cè)試向量之間相容壓縮的壓縮效果不佳的問題,為了提高測(cè)試向量間的相容性,提出了最大近似相容的分組測(cè)試向量相容壓縮方法。首先將測(cè)試向量按相同的數(shù)據(jù)塊長度劃分為若干組,然后提出對(duì)分組測(cè)試向量進(jìn)行最大近似相容性的重排序,將測(cè)試集分為兩個(gè)集合:已排序集合和未排序集合。先將確定位最多的測(cè)試向量作為已排序集合的首個(gè)測(cè)試向量,再對(duì)已排序集合的最后一個(gè)測(cè)試向量和未排序集合的所有測(cè)試向量進(jìn)行近似相容性比較,將在未排序集合中與其近似相容性最大的測(cè)試向量依次插入到已排序集合中,直至重新排序完畢;最后,將重排序的測(cè)試向量編碼壓縮,每個(gè)測(cè)試向量都要存放兩次,一次是源數(shù)據(jù)存入RAM存儲(chǔ)器中以備下一測(cè)試向量參考,另一次是將壓縮后的數(shù)據(jù)存入ATE中,第一個(gè)測(cè)試向量比較特殊,是將源數(shù)據(jù)不作處理分別存入ATE和RAM中。該方法使得不相容的測(cè)試向量能達(dá)到最大程度的近似相容,從而提高了測(cè)試向量之間相容壓縮的壓縮效果;且對(duì)測(cè)試向量間的重排序不影響故障覆蓋率,且是在離線情況下實(shí)施,因此不影響測(cè)試時(shí)間。對(duì)ISCAS’89標(biāo)準(zhǔn)電路進(jìn)行試驗(yàn),與其他編碼方案對(duì)比,證實(shí)方案可行有效,而且硬件結(jié)構(gòu)簡單。
【作者單位】： 安慶師范大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 相容壓縮 測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮 內(nèi)建自測(cè)試 編碼
【基金】：安徽省技術(shù)帶頭人及后備人選(gxbjZD2016075,2015H053) 國家自然科學(xué)基金(61306046,61640421)資助項(xiàng)目
【分類號(hào)】：TN407
【正文快照】： 1引言隨著集成電路規(guī)模的不斷增大,集合有大量的知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)核的系統(tǒng)芯片,它的集成度越來越高。但是同時(shí)也面臨著測(cè)試的巨大挑戰(zhàn),測(cè)試數(shù)據(jù)量變得龐大,這就使得租用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(automatic test equipment,ATE)的開銷高昂,從而加大了測(cè)試資源的開銷。為了解決這些問題,壓縮測(cè)

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本文編號(hào)：531349