本文關(guān)鍵詞：最大近似相容的分組測試向量相容壓縮方法

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【摘要】：針對長度過長的測試向量之間相容壓縮的壓縮效果不佳的問題,為了提高測試向量間的相容性,提出了最大近似相容的分組測試向量相容壓縮方法。首先將測試向量按相同的數(shù)據(jù)塊長度劃分為若干組,然后提出對分組測試向量進行最大近似相容性的重排序,將測試集分為兩個集合:已排序集合和未排序集合。先將確定位最多的測試向量作為已排序集合的首個測試向量,再對已排序集合的最后一個測試向量和未排序集合的所有測試向量進行近似相容性比較,將在未排序集合中與其近似相容性最大的測試向量依次插入到已排序集合中,直至重新排序完畢;最后,將重排序的測試向量編碼壓縮,每個測試向量都要存放兩次,一次是源數(shù)據(jù)存入RAM存儲器中以備下一測試向量參考,另一次是將壓縮后的數(shù)據(jù)存入ATE中,第一個測試向量比較特殊,是將源數(shù)據(jù)不作處理分別存入ATE和RAM中。該方法使得不相容的測試向量能達到最大程度的近似相容,從而提高了測試向量之間相容壓縮的壓縮效果;且對測試向量間的重排序不影響故障覆蓋率,且是在離線情況下實施,因此不影響測試時間。對ISCAS’89標準電路進行試驗,與其他編碼方案對比,證實方案可行有效,而且硬件結(jié)構(gòu)簡單。
【作者單位】： 安慶師范大學計算機與信息學院;
【關(guān)鍵詞】： 相容壓縮 測試數(shù)據(jù)壓縮 內(nèi)建自測試 編碼
【基金】：安徽省技術(shù)帶頭人及后備人選(gxbjZD2016075,2015H053) 國家自然科學基金(61306046,61640421)資助項目
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言隨著集成電路規(guī)模的不斷增大,集合有大量的知識產(chǎn)權(quán)(IP)核的系統(tǒng)芯片,它的集成度越來越高。但是同時也面臨著測試的巨大挑戰(zhàn),測試數(shù)據(jù)量變得龐大,這就使得租用自動測試設(shè)備(automatic test equipment,ATE)的開銷高昂,從而加大了測試資源的開銷。為了解決這些問題,壓縮測

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本文編號：531349