清洗系統(tǒng)在晶圓減薄后的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間:2017-07-01 02:16
本文關(guān)鍵詞:清洗系統(tǒng)在晶圓減薄后的應(yīng)用,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:根據(jù)集成電路晶圓的不同用途,分析了晶圓減薄后,殘留的污染物對(duì)后續(xù)工藝的影響;提出了一種集成在減薄機(jī)內(nèi)部的清洗系統(tǒng),根據(jù)清洗目標(biāo),配套了完整的清洗方案。
【作者單位】: 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十五研究所;
【關(guān)鍵詞】: 晶圓 減薄后 清洗系統(tǒng)
【分類(lèi)號(hào)】:TN305.97
【正文快照】: 從集成電路的發(fā)展趨勢(shì)看,出于終端應(yīng)用特別是移動(dòng)設(shè)備對(duì)更高性能、更低成本、更小形狀因子的器件需求,晶圓片直徑在逐步增大,同時(shí)封裝用的晶圓厚度逐步減小。由于市場(chǎng)需求的不斷更新,芯片厚度減薄的趨勢(shì)越來(lái)越快,導(dǎo)致薄晶圓的加工風(fēng)險(xiǎn)越來(lái)越高,對(duì)晶圓減薄設(shè)備的技術(shù)要求也越來(lái)
【相似文獻(xiàn)】
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1 ;信息報(bào)道[J];電子與封裝;2007年02期
2 ;SEZ揭開(kāi)業(yè)界最高產(chǎn)的采用90NM技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的單晶濕處理清洗系統(tǒng)的神秘面紗[J];集成電路應(yīng)用;2003年07期
3 ;SEZ揭開(kāi)業(yè)界最高產(chǎn)的采用90-NM技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的單晶濕處理清洗系統(tǒng)的神秘面紗[J];中國(guó)集成電路;2003年07期
4 本刊通訊員;;FSI國(guó)際宣布帶有ViPR~(TM)技術(shù)的ZETA~汶噴霧式清洗系統(tǒng)已完成200mm制造工藝驗(yàn)證[J];電子與封裝;2009年01期
5 ;[J];;年期
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,本文編號(hào):504303
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