本文關鍵詞：基于UVM驗證方法學的縱向可重用研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：現(xiàn)在片上系統(tǒng)(SOC)的復雜度和集成度越來越高,這給驗證帶來了巨大的挑戰(zhàn).傳統(tǒng)的驗證方法存在各種不足,在效率方面已經(jīng)遠遠達不到生產的要求.UVM是近年來興起的一種高效的通用驗證方法學,不僅可以縮短驗證周期,而且具有很好的可重用性.UVM驗證方法學的可重用主要分為橫向的可重用和縱向的可重用,主要闡述了UVM中縱向可重用的方法,并以APB總線為例,描述了從模塊級到系統(tǒng)級的驗證平臺的搭建方法,這種方法很好地體現(xiàn)了縱向重用提高驗證效率的優(yōu)勢.
【作者單位】： 中國科學院微電子研究所;
【關鍵詞】： UVM 縱向可重用 APB總線
【分類號】：TN47
【正文快照】： 1引言隨著超大規(guī)模集成電路設計復雜度和集成度的提高,集成電路的驗證也面臨著巨大的挑戰(zhàn).在芯片的研發(fā)過程中,在驗證上所花費的時間占到了整體時間的70%[1],芯片驗證已經(jīng)成為芯片研發(fā)中最關鍵的環(huán)節(jié).傳統(tǒng)的驗證語言存在抽象建模能力不足,擴展和維護很難,缺少帶約束的隨機激勵

【參考文獻】

中國碩士學位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 李博;基于SystemVerilog-VMM的仿真環(huán)境設計及其應用[D];哈爾濱工業(yè)大學;2009年

【共引文獻】

中國碩士學位論文全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 趙唯唯;面向無線傳感器網(wǎng)絡的UVM驗證方法應用研究[D];西安電子科技大學;2014年

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前1條

1 ;更佳的UVM配置[J];電子設計工程;2011年10期

  本文關鍵詞：基于UVM驗證方法學的縱向可重用研究，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號：500118