劃片工序?qū)?cè)裝產(chǎn)品開(kāi)路的影響
本文關(guān)鍵詞:劃片工序?qū)?cè)裝產(chǎn)品開(kāi)路的影響,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。
【摘要】:隨著集成電路封裝產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,一種帶有側(cè)裝芯片的地磁傳感器封裝產(chǎn)品應(yīng)運(yùn)而生。如何提升側(cè)裝工序的良率成為這種封裝產(chǎn)品成敗的一大挑戰(zhàn)。本文從劃片工序詳細(xì)討論了側(cè)裝工序開(kāi)路不良產(chǎn)生的原因,并提出了改善方案。
【作者單位】: 江蘇長(zhǎng)電科技股份有限公司;
【關(guān)鍵詞】: 側(cè)裝 開(kāi)路 劃片 崩邊
【分類(lèi)號(hào)】:TN405
【正文快照】: 1前言隨著電子產(chǎn)品小型化和集成化的發(fā)展趨勢(shì),一種小尺寸的三軸地磁傳感器應(yīng)運(yùn)而生。在這個(gè)傳感器中,為了實(shí)現(xiàn)地磁傳感器Z軸的功能,需要使用側(cè)裝工藝將芯片側(cè)立起來(lái)貼裝,其他功能則通過(guò)裝片、球焊工藝來(lái)實(shí)現(xiàn)。其中,側(cè)裝工藝是整個(gè)封裝工藝的難點(diǎn),也是良率損失最多的工序。本文
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,本文編號(hào):482518
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