隨著科學技術的發(fā)展,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、自動測試、工業(yè)控制、數(shù)字通信以及測量等各個領域廣泛采用模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),各行業(yè)對ADC的精度要求也是不斷提高。由于數(shù)字信號處理技術(DSP)具有快速的數(shù)字化數(shù)據(jù)處理能力,并逐漸應用于ADC測試領域,通過快速傅里葉變換(FFT)處理后,計算ADC采樣后信號的頻譜信息,從而實現(xiàn)ADC的頻域參數(shù)測試。本課題主要針對高精度ADC利用FFT法進行頻域參數(shù)測試,并解決高精度ADC測試中對輸入信號要求高、存在頻譜泄露和柵欄效應的影響,通過算法優(yōu)化提高測試精度。本文主要研究內(nèi)容如下:(1)為了解決高精度ADC頻域參數(shù)測試在非相干采樣條件下出現(xiàn)的頻譜泄露問題,通過加組合余弦窗函的方法,解釋了窗函數(shù)的性能對ADC頻域參數(shù)測試的影響,通過研究組合余弦窗函數(shù)的性能及設計方法,分析如何設計選擇窗函數(shù)降低頻譜泄露的影響。(2)由于非相干采樣下FFT測試法出現(xiàn)的柵欄效應,通過頻域插值算法降低柵欄效應的影響,對雙譜線和三譜線插值算法進行深入闡述,并利用加窗插值算對ADC頻域參數(shù)測試的幅值進行修正。(3)由于高精度ADC測試對輸入信號純度要求較高,為了降低對高精度信號源的需求,利用...

【文章頁數(shù)】：78 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
第一章 緒論
    1.1 研究課題背景與意義
    1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 本文的主要工作
    1.4 本文的結構安排
第二章 高精度ADC參數(shù)測試原理
    2.1 高精度ADC頻域測試參數(shù)
    2.2 ADC頻域參數(shù)測試技術
        2.2.1 ADC測試輸入信號生成
        2.2.2 高精度ADC頻域測試方法
    2.3 FFT測試法常見問題
        2.3.1 頻譜泄露
        2.3.2 柵欄效應
    2.4 本章小結
第三章 加窗插值算法的研究及改進
    3.1 窗函數(shù)描述及選擇
    3.2 窗函數(shù)設計
    3.3 頻譜插值算法
        3.3.1 雙譜線線性插值算法
        3.3.2 三譜線線性插值算法
    3.4 加窗插值算法的幅值修正
    3.5 本章小結
第四章 測試信號生成算法及測試平臺搭建
    4.1 測試信號生成原理
    4.2 基波幅度匹配和相位匹配
        4.2.1 基波幅度匹配
        4.2.2 基波相位匹配
    4.3 非相干性識別和估計
        4.3.1 基波的非相干性識別
        4.3.2 DAC的非線性估計
    4.4 測試信號的捕獲
    4.5 ADC評估實驗板設計
        4.5.1 總體硬件方案
        4.5.2 待測ADC電路設計
    4.6 本章小結
第五章 高精度ADC加窗插值頻域測試
    5.1 測試基本流程
    5.2 測試結果與分析
    5.3 本章小結
第六章 總結與展望
    6.1 總結
    6.2 展望
致謝
參考文獻
附錄
攻讀碩士學位期間取得的成果



本文編號：4044759