發(fā)布時(shí)間：2017-05-29 03:00

  本文關(guān)鍵詞：邊界掃描在數(shù)字電路故障診斷中的應(yīng)用，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著數(shù)字電路的規(guī)模越來(lái)越大,電路系統(tǒng)越來(lái)越復(fù)雜,故障診斷的難度不斷提高,故障診斷技術(shù)已成為一門綜合性的熱門學(xué)科。本文首先引入數(shù)字電路故障診斷理論,介紹了故障診斷的基本概念與原理,研究數(shù)字電路中多種故障的診斷方法。組合電路中主要包括偽窮舉法和故障表法,通過(guò)簡(jiǎn)單的示例分析了原理及方法,數(shù)字電路主要包括線路測(cè)試法和轉(zhuǎn)換核對(duì)法。并對(duì)比了組合邏輯電路與時(shí)序邏輯電路的故障診斷方法的不同,分析了時(shí)序邏輯電路故障診斷的困難。接著介紹了故障診斷中邊界掃描的技術(shù)參數(shù)和原理,探討了邊界掃描中的基本結(jié)構(gòu),包括TAP控制器和各大寄存器。并對(duì)邊界掃描中常見(jiàn)的算法進(jìn)行了分析。常規(guī)算法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)試矢量設(shè)計(jì)容易、編碼簡(jiǎn)單,缺點(diǎn)是測(cè)試耗時(shí)長(zhǎng)、復(fù)雜電路故障診斷能力差,常見(jiàn)的包括移位算法、二進(jìn)制技術(shù)算法、改良計(jì)數(shù)序列算法、技術(shù)補(bǔ)償算法。相對(duì)“智能”的算法,比如W步自適應(yīng)算法和GANN測(cè)試矢量生成算法,結(jié)合相關(guān)信息對(duì)測(cè)試矢量進(jìn)行了優(yōu)化,大大減少測(cè)試矢量數(shù)目,縮短測(cè)試時(shí)間,而且具備診斷復(fù)雜電路的能力,但附加條件多。然后分別從器件和電路的角度對(duì)邊界掃描的可測(cè)性進(jìn)行了研究。器件的可測(cè)性決定于器件是否支持邊界掃描。針對(duì)電路中不支持邊界掃描的器件,通過(guò)將不支持邊界掃描的器件與支持邊界掃描的器件相連,或者將不支持邊界掃描的器件連接到外設(shè)的數(shù)字I/O設(shè)備上,實(shí)現(xiàn)邊界掃描鏈路對(duì)不支持邊界掃描器件的連接,極大地提高了電路故障診斷的覆蓋率。根據(jù)某雷達(dá)接收機(jī)數(shù)字電路測(cè)試需要,設(shè)計(jì)了一套邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)。軟件部分針對(duì)TAP控制器測(cè)試、邊界掃描器件自測(cè)和邊界掃描測(cè)試等不同流程給出了相應(yīng)的測(cè)試程序。硬件部分設(shè)計(jì)了一套可用于多類型數(shù)字電路的故障診斷的通用平臺(tái)。用該邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)對(duì)某型號(hào)雷達(dá)接收機(jī)的各種數(shù)字電路進(jìn)行了測(cè)試,對(duì)設(shè)定的各種故障,診斷結(jié)果正確,表明該測(cè)試系統(tǒng)實(shí)用可靠。
【關(guān)鍵詞】：故障診斷 機(jī)內(nèi)測(cè)試(Built-In-Test) 邊界掃描測(cè)試技術(shù)
【學(xué)位授予單位】：南京大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號(hào)】：TN79
【目錄】：

• 摘要3-5
• Abstract5-8
• 第一章 引言8-12
• 1.1 課題背景8-9
• 1.2 故障診斷技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)和現(xiàn)狀9-10
• 1.3 論文主要內(nèi)容10-12
• 第二章 數(shù)字電路常見(jiàn)的診斷方法12-24
• 2.1 數(shù)字電路故障診斷基本原理13
• 2.2 數(shù)字電路中常見(jiàn)邏輯故障診斷13-24
• 2.2.1 組合邏輯電路的故障診斷14-17
• 2.2.2 時(shí)序邏輯電路的故障診斷17-24
• 第三章 邊界掃描的基本理論24-36
• 3.1 邊界掃描技術(shù)參數(shù)25-28
• 3.2 邊界掃描基本結(jié)構(gòu)28-34
• 3.2.1 TAP控制器29-32
• 3.2.2 寄存器32-34
• 3.3 邊界掃描測(cè)試常見(jiàn)算法34-36
• 第四章 邊界掃描的可測(cè)性研究36-41
• 4.1 器件的邊界掃描特性研究36
• 4.2 電路的可測(cè)性研究36-41
• 4.2.1 電路中第一類器件的測(cè)試37-38
• 4.2.2 電路中第二類器件的測(cè)試38-39
• 4.2.3 電路中第三類器件的測(cè)試39-41
• 第五章 邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)41-50
• 5.1 測(cè)試系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)41-46
• 5.1.1 TAP控制器測(cè)試41-42
• 5.1.2 邊界掃描器件自測(cè)42-43
• 5.1.3 邊界掃描測(cè)試43-46
• 5.2 測(cè)試系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)46-47
• 5.3 測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證47-50
• 第六章 總結(jié)與展望50-52
• 6.1 本文工作總結(jié)50
• 6.2 研究展望50-52
• 致謝52-53
• 參考文獻(xiàn)53-55

【參考文獻(xiàn)】

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  本文關(guān)鍵詞：邊界掃描在數(shù)字電路故障診斷中的應(yīng)用，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：403965