光子飛行時(shí)間測量專用集成電路的研究與設(shè)計(jì)
【文章頁數(shù)】:67 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
圖1.6微通道板與芯片混合集成
由上述原理可知,將微通道板探測器和高性能面陣讀出集成電路芯片直接進(jìn)行混合集成是一條必然之路。如圖所示,本文提出將微通道板光子飛行時(shí)間探測系統(tǒng)和專用集成電路ASIC結(jié)合起來?衫没旌霞杉夹g(shù)完成探測器和讀出電路芯片的一體化,提出基于MCP與ASIC的高時(shí)空分辨率的單光子面陣探測器....
圖2.1模擬前端電路信號轉(zhuǎn)換
光子飛行時(shí)間測量系統(tǒng)中,微通道板探測器將光子轉(zhuǎn)化為電信號,專用集成電路芯片對電信號進(jìn)行處理,實(shí)現(xiàn)記錄時(shí)間的功能。模擬前端電路(AnalogFrontEndCircuit,AFE)位于整個(gè)電路芯片系統(tǒng)的最前端。如圖2.1所示,經(jīng)過放大器模塊、比較器模塊等處理,在其內(nèi)部完成了電....
圖2.2電路恢復(fù)時(shí)間
電路工作過程中,脈沖信號輸入的電路需要逐次處理這些信號。當(dāng)一個(gè)信號來臨時(shí),電路需要一段時(shí)間來進(jìn)行當(dāng)前信號的處理,電流流過電路結(jié)構(gòu)中的各MOS管、電阻、電容等元件,使其電位、狀態(tài)發(fā)生改變。當(dāng)前信號處理結(jié)束之后,電路中各元件恢復(fù)到最初的狀態(tài),電路也恢復(fù)到了初始狀態(tài)。模擬前端電路的電路....
圖2.3時(shí)間誤差
其關(guān)鍵指標(biāo)還包括時(shí)間誤差,又稱行走誤差。不同的光信號對應(yīng)著不同的電信號,經(jīng)過放大器放大之后,進(jìn)入比較器比較。對于同樣的閾值,不同大小的信號會對應(yīng)不同的時(shí)間,這就導(dǎo)致了時(shí)間誤差[32]。如圖2.3所示,兩個(gè)坐標(biāo)系的橫軸為時(shí)間,縱軸分別為放大器輸出和比較器輸出。當(dāng)經(jīng)過放大器處理得到的....
本文編號:3944204
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3944204.html