隨著信息時代的飛速發(fā)展,集成電路已被廣泛應(yīng)用于民用、商用、軍用等多個領(lǐng)域,與此同時,集成電路測試作為保證集成電路質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)之一,變得越來越重要。集成電路需求及其工藝的不斷提升,電路規(guī)模和設(shè)計復雜度的日益增大,不僅造成集成電路故障測試向量集生成愈發(fā)困難,同時造成獲得的集成電路故障測試向量集規(guī)模不斷增長。在生成的集成電路故障測試向量集中往往含有大量冗余測試向量,造成集成電路測試時間增加的同時,增加了集成電路測試的成本。因此,集成電路故障測試向量集優(yōu)化問題逐漸為國內(nèi)外學者所重視。本文深入研究多種現(xiàn)有測試向量集優(yōu)化算法并分析算法的優(yōu)缺點后,提出基于最小集合覆蓋求解方法的測試向量集優(yōu)化方法。該方法通過建立故障集與測試向量集中每個測試向量的對應(yīng)關(guān)系,重新建模,將測試向量集優(yōu)化問題轉(zhuǎn)化為最小集合覆蓋問題求解。根據(jù)最小集合覆蓋問題的現(xiàn)有求解方式,相較于精確求解方法,該方法采用更適合大規(guī)模問題的啟發(fā)式求解方法,以自動測試向量生成工具TetraMAX ATPG生成的測試向量集為基礎(chǔ),實現(xiàn)對測試向量集規(guī)模的約簡,并通過實驗說明其可行性。此外,在進一步研究多故障測試向量集優(yōu)化方法的基礎(chǔ)上,本文提出結(jié)合融合...

【文章頁數(shù)】：64 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖1-1集成電路測試流程圖

第1章緒論1第1章緒論1.1研究背景在電子產(chǎn)品廣泛覆蓋的今天，集成電路已被廣泛應(yīng)用于人民生活、科學研究、國防建設(shè)、經(jīng)濟發(fā)展等各個領(lǐng)域。而隨著微電子技術(shù)的進步、半導體工藝的提升以及電路規(guī)模的日益增大，集成電路的集成度日益提高，其結(jié)構(gòu)隨之變得越來越復雜，使得集成電路測試變得愈發(fā)困難，....

圖2-1測試向量生成基本原理

第2章測試和最小集合覆蓋相關(guān)概念8量不能檢測該故障。根據(jù)這一原理，可知一個測試向量可能覆蓋多個故障，一個故障也可以被多個測試向量覆蓋。圖2-1測試向量生成基本原理在集成電路測試中，為衡量ATPG方法生成的測試向量集的優(yōu)劣，其中一個重要參數(shù)就是故障覆蓋率[23]。定義2.1故障覆蓋....

圖2-2RWLS方法局部搜索求解流程圖

第2章測試和最小集合覆蓋相關(guān)概念13預處理階段作為RWLS方法的一個重要部分，其目的是保證禁忌策略的有效性，對元素集合E中每個元素，檢查能夠覆蓋該元素的集合的個數(shù)，若該元素被覆蓋次數(shù)僅為1，即代表覆蓋該元素的集合一定會被放入候選解中，則該元素可以從原問題中移除。局部搜索求解階段作....

圖3-1故障列表與故障族獲取流程圖

第3章基于最小集合覆蓋的測試向量集優(yōu)化21圖3-1故障列表與故障族獲取流程圖此外，對于測試向量集優(yōu)化問題來說，根據(jù)定義3.7，必然測試向量一定包含于最優(yōu)完備測試向量集中。因此，在測試向量集優(yōu)化這一最小集合覆蓋實例問題中，在預處理步驟，CTPSS方法將所有必然測試向量予以標記后，添....

本文編號：3892871