絕緣柵雙極型晶體管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的結(jié)溫精確在線測(cè)量對(duì)于功率變流器的熱管理及可靠性研究具有重要意義。然而目前絕大多數(shù)溫敏電參數(shù)都受到器件老化的影響,無法準(zhǔn)確地描述老化進(jìn)程中器件的結(jié)溫信息。由于短路電流作為溫敏電參數(shù)時(shí),其測(cè)量結(jié)果受器件鍵合線老化的影響。為此,文中提出一種基于組合短路電流的IGBT模塊結(jié)溫測(cè)量方法,該方法可以消除鍵合線老化的影響。通過理論分析和模擬剪線實(shí)驗(yàn)分析鍵合線老化對(duì)所提結(jié)溫測(cè)量方法的影響,并搭建實(shí)驗(yàn)平臺(tái),驗(yàn)證所提方法在運(yùn)行變流器中在線測(cè)量結(jié)溫的可行性。理論分析和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所提方法不僅能消除鍵合線老化對(duì)結(jié)溫測(cè)量的影響,還具有線性度好、靈敏度較好及在線測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)。

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本文編號(hào)：3819062