可靠性預(yù)計(jì)是可靠性設(shè)計(jì)分析的重要環(huán)節(jié),可以為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、試驗(yàn)、保障資源配置等提供支撐。本文簡(jiǎn)要介紹實(shí)踐中應(yīng)用較多的兩種電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)方法——基于手冊(cè)的預(yù)計(jì)方法和基于失效物理的預(yù)計(jì)方法,及其代表性的標(biāo)準(zhǔn)、手冊(cè),分析總結(jié)了這兩種方法的優(yōu)缺點(diǎn),并提出了電子產(chǎn)品可靠性預(yù)計(jì)應(yīng)用和發(fā)展的建議。 

【文章來源】：強(qiáng)度與環(huán)境. 2020,47(05)CSCD

【文章頁數(shù)】：7 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 基于手冊(cè)的可靠性預(yù)計(jì)方法
    1.1 MIL-HDBK-217及其衍生方法
    1.2 217F之后的預(yù)計(jì)方法和標(biāo)準(zhǔn)
2 基于失效物理的可靠性預(yù)計(jì)方法
3 總結(jié)與展望



本文編號(hào)：3640346