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基于深度學(xué)習(xí)的IC引腳焊接缺陷自動檢測技術(shù)研究

發(fā)布時間:2022-01-18 22:37
  隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展,電路板上元件貼片安裝(Surface Mount Technology,SMT)已廣泛采用自動光學(xué)檢測(Automated Optical Inspection,AOI)技術(shù)。目前AOI設(shè)備基本都采用統(tǒng)計建模和模板匹配的檢測方式,可靠性高,速度快。但每次更換產(chǎn)品型號都需要重新進行統(tǒng)計建模,要通過對人工檢測為合格的樣本進行統(tǒng)計學(xué)習(xí)以建立模板,然后進行自動檢測。這種建立模板方式耗時且繁瑣,所以AOI在小批量多品種的電子制造企業(yè)應(yīng)用效果不好。特別是對IC引腳焊接缺陷的檢測,一直是AOI中的技術(shù)難點。且隨著IC集成度更高,細(xì)間距引腳增加,檢測難度更大。本文研究了采用深度學(xué)習(xí)方法,建立深度卷積網(wǎng)絡(luò),通過對大量不同型號的IC引腳焊接圖像樣本進行學(xué)習(xí),然后對不同型號IC的引腳焊接缺陷進行有效檢測。這樣建立了通用方法,對不同型號IC,只需判斷引腳位置,即可進行其焊接缺陷的檢測,避免了更換產(chǎn)品型號后需要重新統(tǒng)計建模的環(huán)節(jié),提高了生產(chǎn)效率。深度學(xué)習(xí)模型能夠直接從輸入的圖片中提取分類特征,并通過層層卷積得到高層次的抽象特征,找到焊點缺陷圖像的共同特征,對于不同類型的IC引腳都能進行準(zhǔn)... 

【文章來源】:五邑大學(xué)廣東省

【文章頁數(shù)】:72 頁

【學(xué)位級別】:碩士

【部分圖文】:

基于深度學(xué)習(xí)的IC引腳焊接缺陷自動檢測技術(shù)研究


AOI 中光源結(jié)構(gòu)圖

示意圖,引腳,焊點


圖 2-2AOI 中 IC 引腳拍攝圖像示意圖,對于合格的 IC 引腳焊點圖,區(qū)域足夠平坦,則該區(qū)域出現(xiàn)紅色。對光被反射回 CCD 相機。因此,合格的不合格的引腳焊點圖與合格的焊點相比

濾波效果,器件,圖像閾值分割,灰度特性


a) 均值濾波圖 b) 中值濾波圖 c) 高斯濾波圖圖 2-5 IC 器件濾波效果圖2.4.2 IC 器件圖像的二值化圖像閾值分割處理是利用圖像中要提取的目標(biāo)物與其背景在灰度特性上的差

【參考文獻】:
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碩士論文
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本文編號:3595721

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