隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的不斷發(fā)展,對電路的性能和可靠性等要求也不斷的增多,而存儲器作為集成電路產(chǎn)業(yè)不可或缺的重要組成部分,對其要求也在不斷的增高,要求性能穩(wěn)定,可靠性高。目前市面上有各式各樣的存儲器,但是PROM存儲器依然以其優(yōu)越的性能被人們越來越重視。PROM存儲器是一次性可編程存儲器,數(shù)據(jù)不可更改,如果特殊情況下,存儲的數(shù)據(jù)需要修改,我們可跳過已經(jīng)編程的存儲區(qū)域,使用還沒有編程的存儲空間更新數(shù)據(jù)。這種情況下,成本低、可靠性高的反熔絲PROM就脫穎而出。在航天領(lǐng)域,空間環(huán)境中的宇宙射線或強(qiáng)磁層產(chǎn)生的高能帶電粒子都會對集成電路造成干擾,在軍工領(lǐng)域,更有可能受到敵方的各種干擾和各種自然環(huán)境的變化,由于反熔絲PROM存儲器可以穩(wěn)定可靠的保存數(shù)據(jù),所以在輻射強(qiáng)、晝夜溫差大、電磁干擾嚴(yán)重的外太空環(huán)境工作時(shí)具有無可比擬的優(yōu)勢。反熔絲PROM具備快速讀取、功耗低、抗輻照性強(qiáng)、可靠性高等優(yōu)點(diǎn),被廣泛利用在航空環(huán)境中。既然PROM存儲器經(jīng)常在環(huán)境惡劣的情況下使用,對它的可靠性要求就比其它存儲器更高,本文的主要目的就在于對反熔絲存儲器的可靠性進(jìn)行研究,這包含兩部分,一部分是對反熔絲器件進(jìn)行可靠性測試,另一部分... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：70 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

測試器件版圖

帶保護(hù)環(huán)的測試器件版圖

是帶有保護(hù)環(huán)的測試器件版圖，8 倍、10 倍的 5 種測試器件。圖 4-3 帶保護(hù)環(huán)的測試器件版圖圖如圖 4-4 所示，版圖中的矩形為金屬 PAD接電源，給反熔絲器件提供電壓。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3545165