發(fā)布時(shí)間：2021-12-17 23:12

　　針對(duì)航發(fā)葉片修復(fù)檢測(cè)的應(yīng)用,提出了一種基于截面線一階導(dǎo)矢法的葉片型面缺陷識(shí)別方法.該方法是以等高線法處理測(cè)量點(diǎn)云中的截面數(shù)據(jù),通過B樣條插值函數(shù)擬合成光滑曲線;再由B樣條曲線的一階導(dǎo)矢公式求出每個(gè)測(cè)點(diǎn)的一階導(dǎo)數(shù),然后以點(diǎn)斜公式求出截面曲線上各個(gè)測(cè)點(diǎn)的切線;如果曲線光滑,曲線上測(cè)點(diǎn)的斜率變化在兩端點(diǎn)斜率值之間,否則表明曲線上有缺陷存在;根據(jù)k-d樹的最近點(diǎn)搜索算法,遍歷整個(gè)葉盆（葉背）就可以找到葉盆（葉背）上的缺陷區(qū)域.通過與三坐標(biāo)測(cè)量實(shí)驗(yàn)比對(duì),該技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)3μm精度的缺陷識(shí)別. 

【文章來源】：自動(dòng)化學(xué)報(bào). 2020,46(03)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【參考文獻(xiàn)】：
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碩士論文
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本文編號(hào)：3541136