隨著工藝尺寸的不斷減小,VLSI芯片的性能也在不斷提高,同時給VLSI芯片的測試帶來了諸多挑戰(zhàn)。目前,在納米工藝下,自測試是解決VLSI芯片測試的研究熱點,自測試的研究為VLSI芯片的可靠性提供了一種有力保障。本論文針對VLSI芯片可靠性技術(shù)中存在的老化度量不精確、單粒子效應(yīng)容錯開銷大、測試數(shù)據(jù)龐大難以壓縮等若干關(guān)鍵技術(shù)進行研究,并提出了相應(yīng)的解決方法。具體內(nèi)容和主要創(chuàng)新點如下:（1）針對目前VLSI芯片老化度量難以精確的問題,提出一種基于特征捕獲的老化精確度量BIST方案。數(shù)字電路老化是影響芯片可靠性的關(guān)鍵因素。目前,在己有的老化度量方法中,國內(nèi)外學者主要采用植入預(yù)兆單元的方式度量老化,即將預(yù)兆單元植入被測電路,并捕獲參照電路的工作時延或頻率,以此判斷被測電路的老化程度。這類方法其缺點是無法提供準確的老化度量指標,對芯片的老化預(yù)測和防護過程都是根據(jù)最壞情況或工作經(jīng)驗操作。這種非精度的防護過程可能對被測電路無法達到最佳的防護效果,有時會起反作用,因此,對數(shù)字電路老化過程的準確度量是提高VLSI芯片可靠性的關(guān)鍵。在該問題的研究中,本論文選用具有一定優(yōu)越性的BIST結(jié)構(gòu),并利用芯片中的部分... 

【文章來源】：合肥工業(yè)大學安徽省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：115 頁

【學位級別】：博士

【部分圖文】：

圖２．１掃描設(shè)計方案??Ｆｉｇ?２．１?Ｓｃａｎｎｉｎｇ?ｄｅｓｉｇｎ?ｓｃｈｅｍｅ??１２??

滿足規(guī)則3設(shè)計

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【參考文獻】：
期刊論文
[1]一種高效的門級電路可靠度估算方法[J]. 蔡爍,鄺繼順,劉鐵橋,周穎波.  電子與信息學報. 2013(05)
[2]基于時-空冗余的集成電路老化失效防護方法[J]. 嚴魯明,梁華國,黃正峰.  電子測量與儀器學報. 2013(01)
[3]一種基于混合模擬的計算組合電路中軟錯誤率的方法與工具[J]. 陳書明,杜延康,劉必慰.  國防科技大學學報. 2012(04)
[4]并行折疊計數(shù)器的BIST方案[J]. 梁華國,李鑫,陳田,王偉,易茂祥.  電子學報. 2012(05)
[5]采用循環(huán)移位和優(yōu)化編碼的測試壓縮方法[J]. 劉杰,梁華國,蔣翠云.  計算機研究與發(fā)展. 2012(04)
[6]NBTI效應(yīng)導(dǎo)致SET脈沖在產(chǎn)生與傳播過程中的展寬[J]. 陳建軍,陳書明,梁斌,劉征,劉必慰,秦軍瑞.  電子學報. 2011(05)
[7]組合邏輯電路中軟錯誤率的頻域分析方法[J]. 雷韶華,韓銀和,李曉維.  計算機研究與發(fā)展. 2011(03)
[8]考慮工作負載影響的電路老化預(yù)測方法[J]. 靳松,韓銀和,李華偉,李曉維.  計算機輔助設(shè)計與圖形學學報. 2010(12)
[9]組合邏輯電路的軟錯誤率自動分析平臺[J]. 繩偉光,肖立伊,毛志剛.  計算機輔助設(shè)計與圖形學學報. 2009(11)
[10]部分向量奇偶位切分的LFSR重新播種方法[J]. 梁華國,詹凱華,蔣翠云,易茂祥.  計算機學報. 2007(10)

博士論文
[1]星載信號處理平臺單粒子效應(yīng)檢測與加固技術(shù)研究[D]. 邢克飛.國防科學技術(shù)大學 2007



本文編號：3485236