隨著工藝尺寸的不斷減小,VLSI芯片的性能也在不斷提高,同時(shí)給VLSI芯片的測(cè)試帶來(lái)了諸多挑戰(zhàn)。目前,在納米工藝下,自測(cè)試是解決VLSI芯片測(cè)試的研究熱點(diǎn),自測(cè)試的研究為VLSI芯片的可靠性提供了一種有力保障。本論文針對(duì)VLSI芯片可靠性技術(shù)中存在的老化度量不精確、單粒子效應(yīng)容錯(cuò)開(kāi)銷大、測(cè)試數(shù)據(jù)龐大難以壓縮等若干關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行研究,并提出了相應(yīng)的解決方法。具體內(nèi)容和主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)如下:（1）針對(duì)目前VLSI芯片老化度量難以精確的問(wèn)題,提出一種基于特征捕獲的老化精確度量BIST方案。數(shù)字電路老化是影響芯片可靠性的關(guān)鍵因素。目前,在己有的老化度量方法中,國(guó)內(nèi)外學(xué)者主要采用植入預(yù)兆單元的方式度量老化,即將預(yù)兆單元植入被測(cè)電路,并捕獲參照電路的工作時(shí)延或頻率,以此判斷被測(cè)電路的老化程度。這類方法其缺點(diǎn)是無(wú)法提供準(zhǔn)確的老化度量指標(biāo),對(duì)芯片的老化預(yù)測(cè)和防護(hù)過(guò)程都是根據(jù)最壞情況或工作經(jīng)驗(yàn)操作。這種非精度的防護(hù)過(guò)程可能對(duì)被測(cè)電路無(wú)法達(dá)到最佳的防護(hù)效果,有時(shí)會(huì)起反作用,因此,對(duì)數(shù)字電路老化過(guò)程的準(zhǔn)確度量是提高VLSI芯片可靠性的關(guān)鍵。在該問(wèn)題的研究中,本論文選用具有一定優(yōu)越性的BIST結(jié)構(gòu),并利用芯片中的部分... 

【文章來(lái)源】：合肥工業(yè)大學(xué)安徽省 211工程院校 教育部直屬院校

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【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

圖２．１掃描設(shè)計(jì)方案??Ｆｉｇ?２．１?Ｓｃａｎｎｉｎｇ?ｄｅｓｉｇｎ?ｓｃｈｅｍｅ??１２??

滿足規(guī)則3設(shè)計(jì)

}4即ST示憊圈

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種高效的門級(jí)電路可靠度估算方法[J]. 蔡爍,鄺繼順,劉鐵橋,周穎波.  電子與信息學(xué)報(bào). 2013(05)
[2]基于時(shí)-空冗余的集成電路老化失效防護(hù)方法[J]. 嚴(yán)魯明,梁華國(guó),黃正峰.  電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào). 2013(01)
[3]一種基于混合模擬的計(jì)算組合電路中軟錯(cuò)誤率的方法與工具[J]. 陳書(shū)明,杜延康,劉必慰.  國(guó)防科技大學(xué)學(xué)報(bào). 2012(04)
[4]并行折疊計(jì)數(shù)器的BIST方案[J]. 梁華國(guó),李鑫,陳田,王偉,易茂祥.  電子學(xué)報(bào). 2012(05)
[5]采用循環(huán)移位和優(yōu)化編碼的測(cè)試壓縮方法[J]. 劉杰,梁華國(guó),蔣翠云.  計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展. 2012(04)
[6]NBTI效應(yīng)導(dǎo)致SET脈沖在產(chǎn)生與傳播過(guò)程中的展寬[J]. 陳建軍,陳書(shū)明,梁斌,劉征,劉必慰,秦軍瑞.  電子學(xué)報(bào). 2011(05)
[7]組合邏輯電路中軟錯(cuò)誤率的頻域分析方法[J]. 雷韶華,韓銀和,李曉維.  計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展. 2011(03)
[8]考慮工作負(fù)載影響的電路老化預(yù)測(cè)方法[J]. 靳松,韓銀和,李華偉,李曉維.  計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào). 2010(12)
[9]組合邏輯電路的軟錯(cuò)誤率自動(dòng)分析平臺(tái)[J]. 繩偉光,肖立伊,毛志剛.  計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào). 2009(11)
[10]部分向量奇偶位切分的LFSR重新播種方法[J]. 梁華國(guó),詹凱華,蔣翠云,易茂祥.  計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào). 2007(10)

博士論文
[1]星載信號(hào)處理平臺(tái)單粒子效應(yīng)檢測(cè)與加固技術(shù)研究[D]. 邢克飛.國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2007



本文編號(hào)：3485236