集成電路測(cè)試系統(tǒng)時(shí)代廣泛使用的測(cè)試方法是:集成電路測(cè)試系統(tǒng)讀取測(cè)試向量,對(duì)被測(cè)芯片引腳施加輸入激勵(lì),測(cè)試被測(cè)芯片引腳輸出響應(yīng),比較輸出響應(yīng)與預(yù)期響應(yīng)來(lái)判斷被測(cè)芯片是否達(dá)標(biāo)。測(cè)試向量行數(shù)數(shù)以百兆級(jí)別,所包含的測(cè)試內(nèi)容十分復(fù)雜,因此采用支持存儲(chǔ)、傳遞測(cè)試向量的碼型文件作為輸入是廣泛使用的測(cè)試向量輸入方式。本文集成電路測(cè)試系統(tǒng)中大規(guī)模向量編譯模塊設(shè)計(jì)與優(yōu)化旨在將存儲(chǔ)海量測(cè)試向量的碼型文件轉(zhuǎn)換為測(cè)試儀可執(zhí)行二進(jìn)制文件。在設(shè)計(jì)過(guò)程中,根據(jù)軟件設(shè)計(jì)高內(nèi)聚低耦合的設(shè)計(jì)原則,本論文采用分模塊設(shè)計(jì)和控制反轉(zhuǎn)接口設(shè)計(jì)的思想,確保程序的可讀性和擴(kuò)展性。本文的主要研究?jī)?nèi)容如下:1.針對(duì)海量測(cè)試向量存取速度慢的問(wèn)題,設(shè)計(jì)測(cè)試向量存儲(chǔ)格式;根據(jù)設(shè)計(jì)格式的特點(diǎn),比較二進(jìn)制格式和HDF5格式文件存儲(chǔ)測(cè)試向量的優(yōu)缺點(diǎn);選定HDF5格式作為本文測(cè)試向量文件的目標(biāo)格式。2.針對(duì)海量測(cè)試向量編譯過(guò)程中速度慢、內(nèi)存占用大的問(wèn)題,本文對(duì)比了語(yǔ)法分析樹(shù)和無(wú)緩沖嵌入動(dòng)作兩種方案。經(jīng)過(guò)性能分析和實(shí)驗(yàn)對(duì)比提出了混合實(shí)現(xiàn)方案,對(duì)碼型文件中占據(jù)大量計(jì)算的向量聲明區(qū)采用內(nèi)存占用和計(jì)算量均較小的無(wú)緩沖嵌入動(dòng)作方法;對(duì)碼型文件中其余描述性功能區(qū)采... 

【文章來(lái)源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】：76 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

RL、RH格式下測(cè)試波形

第二章軟件需求分析以及總體方案11圖2-5RL、RH格式下測(cè)試波形本文中測(cè)試向量的輸入有以下兩種來(lái)源途徑，一是用戶(hù)在顯控軟件向量調(diào)試器鍵入測(cè)試向量信息，二是用戶(hù)編撰ASCII碼型文件存儲(chǔ)向量信息。兩種方式最后均要轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)程序可直接讀取的向量文件格式。兩種方式如圖2-6、2-7所示：對(duì)比以上兩圖可知，圖2-6向量調(diào)試器界面與圖2-7ASCII碼型文件向量格式包含信息一一對(duì)應(yīng)。（1）Vector列描述了向量行行號(hào)，且第一向量行行號(hào)為0；（2）TimeSet列描述向量行所使用的時(shí)序設(shè)置，且TimeSet列最多有128個(gè)時(shí)序設(shè)置，其中TSB0為一個(gè)；（3）Label列為向量行設(shè)置標(biāo)簽，“L1”代表0向量行；（4）Opcode列描述了向量行操作信息，jump（L1）表示執(zhí)行到2行便跳轉(zhuǎn)到0行執(zhí)行；（5）P0~P5列描述了被測(cè)引腳對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量字符。圖2-6向量調(diào)試器界面

第三章掃描鏈功能設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)27本文采用深度優(yōu)先遍歷、廣度優(yōu)先遍歷兩種遍歷機(jī)制混合方式設(shè)計(jì)語(yǔ)法規(guī)則文件，對(duì)碼型文件中占據(jù)大量計(jì)算的向量聲明區(qū)采用內(nèi)存占用較小的深度優(yōu)先遍歷；對(duì)碼型文件中其余描述性功能區(qū)采用結(jié)構(gòu)更明晰的廣度優(yōu)先遍歷。3.1.2.2詞法分析ANTLR4詞法分析器又稱(chēng)詞法符號(hào)生成器負(fù)責(zé)分析詞法，將輸入的字符序列分解成一系列詞法符號(hào)[27]。詞法符號(hào)是一門(mén)語(yǔ)言的基礎(chǔ)詞匯符號(hào)，它們可以是代表標(biāo)識(shí)符一類(lèi)的符號(hào)，也可以是代表一個(gè)單一的運(yùn)算符，或者是代表一個(gè)關(guān)鍵字。例如一個(gè)簡(jiǎn)單的賦值語(yǔ)句:sp=100;該賦值語(yǔ)句由四個(gè)詞組組成：變量名“sp”、賦值符號(hào)“=”、變量值“100”和語(yǔ)句結(jié)束符“;”。該賦值語(yǔ)句數(shù)據(jù)流程圖如圖3-6所示。圖3-6數(shù)據(jù)流程圖根據(jù)上圖詞法符號(hào)劃分方式將掃描引腳聲明區(qū)、掃描向量聲明區(qū)語(yǔ)法規(guī)則進(jìn)行詞法符號(hào)劃分如表3-2所示：表3-2詞法符號(hào)詞組描述表達(dá)式scan_pin掃描引腳([0-9])?[a-zA-Z][a-zA-Z0-9_]*bit_used引腳模式"1bit"|"2bit"cycles掃描向量深度[1-9][0-9]*scan_pin_type掃描引腳類(lèi)型"si"|"so"radix掃描向量格式"S"|"X"|"H"scan_data掃描向量"0"|"1"|"2"|"L"|"H"|"M"|"X"|"V"|"["|"-"|"]"|"[a-zA-Z0-9]"本小節(jié)講述了語(yǔ)法規(guī)則文件的設(shè)計(jì)。首先設(shè)計(jì)了描述掃描鏈功能的測(cè)試語(yǔ)言，然后根據(jù)測(cè)試語(yǔ)言從深度優(yōu)先遍歷、廣度優(yōu)先遍歷兩個(gè)遍歷機(jī)制進(jìn)行分析，并設(shè)計(jì)了掃描引腳聲明區(qū)、掃描向量聲明區(qū)的語(yǔ)法表達(dá)式和詞法表達(dá)式。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種多功能數(shù)字式晶體管圖示儀的設(shè)計(jì)[J]. 王龍,柴志軍.  黑龍江大學(xué)工程學(xué)報(bào). 2021(02)



本文編號(hào)：3397783