本文基于差頻檢測的原理,提出一種在高頻動態(tài)輸入模式下,對高速高精度模數(shù)轉換器（AD）的抗單粒子翻轉效應進行評估的測試方法,并以一款8位3GSPS高速AD為測試對象,設計開發(fā)了一套高速AD單粒子翻轉效應測試系統(tǒng),對目標器件進行了重離子試驗。通過對試驗結果的圖像和錯誤數(shù)據(jù)進行分析,獲得了參試器件的抗輻照性能參數(shù),為抗輻照高速高精度AD的加固設計提供數(shù)據(jù)支撐。 

【文章來源】：中國航天電子技術研究院科學技術委員會2020年學術年會論文集航天電子發(fā)展戰(zhàn)略研究中心會議論文集

【文章頁數(shù)】：10 頁

【部分圖文】：

高速AD單粒子翻轉效應錯誤截面圖

FIFO＿1的錯誤數(shù)據(jù)的緩存方式如圖5所示，當未出現(xiàn)錯誤時，使FIFO＿1始終處于半滿狀態(tài)，寫入和讀出速度相等，當檢測到單粒子翻轉錯誤時，F(xiàn)IFO＿1開始關閉讀出，當FIFO＿1寫滿后將整個數(shù)據(jù)上傳。選用FIFO＿1寬度為64 bit、深度為4 096，由寫入到讀出會有5個周期延時，因此當檢測到FIFO＿1滿時還有5個數(shù)據(jù)未進入，因此最終總上傳數(shù)為4 091。3.2 軟件設計

圖1為差頻測試示意圖。當采樣頻率為1 GHz，輸入信號為998.76 MHz，則輸出1.24 MHz的緩慢正弦波。由于動態(tài)信號具有較高的頻率，所以在AD的輸入模塊部分施加了更大的壓力，因而更易在電路的模擬部分產(chǎn)生更長的瞬態(tài)脈沖。在差頻測試時應當保證AD的輸出在每個時鐘周期的變化盡量小，若輸出的變化很大，由于單粒子翻轉引起的輸出變化很小，則錯誤檢測軟件會檢測不到。因此應使AD的輸出變化小于最小分辨率，才能監(jiān)測到更精確的單粒子翻轉錯誤(圖2)。

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3386979