InSb紅外探測(cè)器是紅外系統(tǒng)的核心部件,探測(cè)器的壽命在很大程度上決定著系統(tǒng)的壽命,直接影響著系統(tǒng)的使用及保障。因此,探測(cè)器的壽命如何評(píng)價(jià)及采用何種試驗(yàn)方法來評(píng)價(jià)至關(guān)重要,但由于紅外系統(tǒng)的敏感性,可查閱的國(guó)外資料比較少,并且壽命試驗(yàn)周期長(zhǎng)、費(fèi)用高,國(guó)內(nèi)至今未形成有效的壽命試驗(yàn)、分析與評(píng)價(jià)方法。本文采用15個(gè)InSb多元探測(cè)器開展了貯存試驗(yàn)研究,應(yīng)力水平分別為70℃、 80℃、 90℃。測(cè)試試驗(yàn)過程中不同溫度下熱負(fù)載的變化,對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析及處理,獲得了壽命加速模型t=2.18×10^-8·exp（0.79/KT）,激活能為0.79 eV,評(píng)估了探測(cè)器在30℃下壽命可以達(dá)到30.76年。 

【文章來源】：航空兵器. 2020,27(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

器件的擬合壽命分布圖

目測(cè)判斷, 每個(gè)溫度的5個(gè)點(diǎn)均近似在一條直線附近, 且3條直線近似平行(實(shí)際常是這樣), 則假設(shè)2, 3均成立, 說明該組數(shù)據(jù)來自同一Weibull分布。3.2.4 建立玻璃杜瓦壽命與溫度的關(guān)系方程

根據(jù)Arrhenius模型的器件特征壽命與所加應(yīng)力水平之間的關(guān)系: ln t= A ′ +B( 1 Τ ) , 利用MATLAB畫出擬合后每個(gè)溫度點(diǎn)的器件的中位壽命與應(yīng)力水平的關(guān)系圖, 如圖3所示。求出A′=-17.640 2和B=9 138.593 1, 則

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]一種HgCdTe探測(cè)器微型杜瓦的設(shè)計(jì)和工藝研究[J]. 杜彬,許宜民,楊冬冬.  低溫與超導(dǎo). 2013(11)
[2]紅外微型杜瓦真空退化特性研究綜述[J]. 張亞平,劉湘云.  紅外. 2013(02)
[3]阿列尼烏斯模型在紅外微型金屬杜瓦的真空壽命試驗(yàn)研究中的應(yīng)用[J]. 黃燕,吳全信.  低溫與超導(dǎo). 2005(02)



本文編號(hào)：3365387