InSb紅外探測器是紅外系統(tǒng)的核心部件,探測器的壽命在很大程度上決定著系統(tǒng)的壽命,直接影響著系統(tǒng)的使用及保障。因此,探測器的壽命如何評價及采用何種試驗方法來評價至關(guān)重要,但由于紅外系統(tǒng)的敏感性,可查閱的國外資料比較少,并且壽命試驗周期長、費用高,國內(nèi)至今未形成有效的壽命試驗、分析與評價方法。本文采用15個InSb多元探測器開展了貯存試驗研究,應(yīng)力水平分別為70℃、 80℃、 90℃。測試試驗過程中不同溫度下熱負載的變化,對試驗數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析及處理,獲得了壽命加速模型t=2.18×10^-8·exp（0.79/KT）,激活能為0.79 eV,評估了探測器在30℃下壽命可以達到30.76年。 

【文章來源】：航空兵器. 2020,27(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

器件的擬合壽命分布圖

目測判斷, 每個溫度的5個點均近似在一條直線附近, 且3條直線近似平行(實際常是這樣), 則假設(shè)2, 3均成立, 說明該組數(shù)據(jù)來自同一Weibull分布。3.2.4 建立玻璃杜瓦壽命與溫度的關(guān)系方程

根據(jù)Arrhenius模型的器件特征壽命與所加應(yīng)力水平之間的關(guān)系: ln t= A ′ +B( 1 Τ ) , 利用MATLAB畫出擬合后每個溫度點的器件的中位壽命與應(yīng)力水平的關(guān)系圖, 如圖3所示。求出A′=-17.640 2和B=9 138.593 1, 則

【參考文獻】：
期刊論文
[1]一種HgCdTe探測器微型杜瓦的設(shè)計和工藝研究[J]. 杜彬,許宜民,楊冬冬.  低溫與超導(dǎo). 2013(11)
[2]紅外微型杜瓦真空退化特性研究綜述[J]. 張亞平,劉湘云.  紅外. 2013(02)
[3]阿列尼烏斯模型在紅外微型金屬杜瓦的真空壽命試驗研究中的應(yīng)用[J]. 黃燕,吳全信.  低溫與超導(dǎo). 2005(02)



本文編號：3365387