針對具有容差的模擬電路故障診斷難題,提出了結(jié)合經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解（EMD）和子帶多態(tài)譜（SPS）的提取模擬電路故障特征新方法。首先計算出待測試電路的二階Volterra核序列,然后用EMD對Volterra序列進行分解,獲得本征模態(tài)函數(shù)（IMFs）,最后通過計算IMFs的倒譜（CS）和Hiltert譜（HS）,對時頻域的多態(tài)數(shù)字故障特征進行提取,從而將容差模擬電路中的軟故障和非線性故障進行分離,完成模擬電路故障診斷。實驗結(jié)果表明,該方法能夠有效地解決故障混疊難題,提升故障元件定位和分離的能力。 

【文章來源】：電子測量與儀器學(xué)報. 2020,34(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

負反饋放大電路

本文方法對C2↗和R4↗軟故障診斷過程進行詳細描述如圖2～6所示。C2的故障參數(shù)在42～48 μF范圍內(nèi),R4的故障參數(shù)在4.515～5.16 kΩ范圍內(nèi),實驗電路其他元件參數(shù)均在正常的容差范圍內(nèi)。圖3 C2和R4故障二階Volterra核的IMF4～IMF6

C2和R4故障二階Volterra核的IMF4～IMF6

【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3345097