針對具有容差的模擬電路故障診斷難題,提出了結(jié)合經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解（EMD）和子帶多態(tài)譜（SPS）的提取模擬電路故障特征新方法。首先計(jì)算出待測試電路的二階Volterra核序列,然后用EMD對Volterra序列進(jìn)行分解,獲得本征模態(tài)函數(shù)（IMFs）,最后通過計(jì)算IMFs的倒譜（CS）和Hiltert譜（HS）,對時(shí)頻域的多態(tài)數(shù)字故障特征進(jìn)行提取,從而將容差模擬電路中的軟故障和非線性故障進(jìn)行分離,完成模擬電路故障診斷。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法能夠有效地解決故障混疊難題,提升故障元件定位和分離的能力。 

【文章來源】：電子測量與儀器學(xué)報(bào). 2020,34(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

負(fù)反饋放大電路

本文方法對C2↗和R4↗軟故障診斷過程進(jìn)行詳細(xì)描述如圖2～6所示。C2的故障參數(shù)在42～48 μF范圍內(nèi),R4的故障參數(shù)在4.515～5.16 kΩ范圍內(nèi),實(shí)驗(yàn)電路其他元件參數(shù)均在正常的容差范圍內(nèi)。圖3 C2和R4故障二階Volterra核的IMF4～I(xiàn)MF6

C2和R4故障二階Volterra核的IMF4～I(xiàn)MF6

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]基于改進(jìn)經(jīng)驗(yàn)?zāi)B(tài)分解的雷達(dá)生命信號(hào)檢測[J]. 劉震宇,陳惠明,陸蔚,李光平.  儀器儀表學(xué)報(bào). 2018(12)
[2]粒子群優(yōu)化的流形SVM模擬電路故障診斷[J]. 單劍鋒,楊雨.  機(jī)械科學(xué)與技術(shù). 2019(02)
[3]基于改進(jìn)EMD和雙譜分析的電機(jī)軸承故障診斷實(shí)現(xiàn)[J]. 陳宗祥,陳明星,焦民勝,葛蘆生.  電機(jī)與控制學(xué)報(bào). 2018(05)
[4]一種模擬電路功能模塊故障診斷的方法[J]. 胡梅,樊敏.  電子測量與儀器學(xué)報(bào). 2015(05)
[5]基于核熵成分分析的模擬電路早期故障診斷方法[J]. 張朝龍,何怡剛,袁莉芬,王金平,佐磊.  儀器儀表學(xué)報(bào). 2015(03)
[6]基于改進(jìn)馬氏距離的模擬電路故障診斷方法[J]. 韓涵,王厚軍,龍兵,劉震.  控制與決策. 2013(11)



本文編號(hào)：3345097