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加熱器/坩堝相對(duì)位置對(duì)ф200mm單晶硅生長(zhǎng)過程中溫度場(chǎng)和晶體質(zhì)量的影響

發(fā)布時(shí)間:2021-08-09 09:31
  采用CGSim晶體生長(zhǎng)軟件,對(duì)現(xiàn)有工業(yè)單晶爐中的加熱器位置進(jìn)行優(yōu)化并分析了其對(duì)熱場(chǎng)、固液界面、晶體中溫度梯度和氧含量的影響。結(jié)果表明,隨加熱器的上移,功率消耗略有降低,熔體內(nèi)的溫度梯度逐漸下降,在高堝位的生長(zhǎng)條件下可以適當(dāng)提升拉晶速率;同時(shí),固液界面也趨于平坦,晶體中的溫度梯度有所減少,從而可以有效地抑制缺陷的形成。另外,晶體中的氧含量也有一定程度的下降?梢缘贸,在晶體等徑生長(zhǎng)初期,提高加熱器的位置是降低晶體生長(zhǎng)成本和提升晶體品質(zhì)的途徑之一。 

【文章來源】:硅酸鹽通報(bào). 2016,35(11)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】:6 頁

【文章目錄】:
1 引言
2 模型建立與計(jì)算參數(shù)
3 結(jié)果與討論
    3.1 加熱器/坩堝相對(duì)位置對(duì)爐內(nèi)溫度場(chǎng)的影響
    3.2 加熱器/坩堝相對(duì)位置對(duì)晶體品質(zhì)的影響
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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本文編號(hào):3331820

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