基于摻雜壓電薄膜的FBAR制備及研究
發(fā)布時間:2021-07-10 01:05
薄膜體聲波諧振器(FBAR)具有體積小、工作頻段高、性能強等優(yōu)勢,在濾波器領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景,其最核心的功能層為壓電薄膜。本文采用磁控濺射方法,在6英寸硅片上制備了AlScN壓電薄膜。對AlScN薄膜進行了分析表征,結(jié)果表明,AlScN壓電薄膜具有良好的(002)面擇優(yōu)取向,搖擺曲線半峰寬為1.75°,膜厚均勻性優(yōu)于0.6%,薄膜應(yīng)力為10.63 MPa,薄膜應(yīng)力可調(diào)。制作了基于AlScN壓電薄膜的FBAR諧振器,其機電耦合系數(shù)為7.53%。在AlN中摻雜Sc能夠有效提高壓電薄膜的機電耦合系數(shù),對研究FBAR濾波器的寬帶化有重要意義。
【文章來源】:人工晶體學(xué)報. 2020,49(06)北大核心
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
AlScN薄膜厚度分布圖
理想狀況下,薄膜的應(yīng)力為零,否則應(yīng)力過大,會造成薄膜受力彎曲,甚至脫落,影響器件的可靠性。對濺射功率、濺射溫度、濺射氣體壓力等工藝參數(shù)優(yōu)化后,保持其它工藝參數(shù)不變,AlScN薄膜應(yīng)力可以通過濺射氣體氬氣的流量進行調(diào)節(jié),AlScN薄膜應(yīng)力可以低至10.63 MPa,如圖3所示。AlScN薄膜應(yīng)力可以通過濺射氣體氬氣的流量進行調(diào)整,薄膜應(yīng)力可控,氬氣流量與薄膜應(yīng)力滿足一定的線性關(guān)系。圖4為氬氣流量對AlScN薄膜應(yīng)力的影響圖,隨著氬氣流量的增加,薄膜應(yīng)力向張應(yīng)力變化。圖3 AlScN薄膜應(yīng)力
AlScN薄膜應(yīng)力
【參考文獻】:
期刊論文
[1]薄膜體聲波諧振器(FBAR)技術(shù)及其應(yīng)用[J]. 何杰,劉榮貴,馬晉毅. 壓電與聲光. 2007(04)
本文編號:3274864
【文章來源】:人工晶體學(xué)報. 2020,49(06)北大核心
【文章頁數(shù)】:4 頁
【部分圖文】:
AlScN薄膜厚度分布圖
理想狀況下,薄膜的應(yīng)力為零,否則應(yīng)力過大,會造成薄膜受力彎曲,甚至脫落,影響器件的可靠性。對濺射功率、濺射溫度、濺射氣體壓力等工藝參數(shù)優(yōu)化后,保持其它工藝參數(shù)不變,AlScN薄膜應(yīng)力可以通過濺射氣體氬氣的流量進行調(diào)節(jié),AlScN薄膜應(yīng)力可以低至10.63 MPa,如圖3所示。AlScN薄膜應(yīng)力可以通過濺射氣體氬氣的流量進行調(diào)整,薄膜應(yīng)力可控,氬氣流量與薄膜應(yīng)力滿足一定的線性關(guān)系。圖4為氬氣流量對AlScN薄膜應(yīng)力的影響圖,隨著氬氣流量的增加,薄膜應(yīng)力向張應(yīng)力變化。圖3 AlScN薄膜應(yīng)力
AlScN薄膜應(yīng)力
【參考文獻】:
期刊論文
[1]薄膜體聲波諧振器(FBAR)技術(shù)及其應(yīng)用[J]. 何杰,劉榮貴,馬晉毅. 壓電與聲光. 2007(04)
本文編號:3274864
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