發(fā)布時間：2021-07-09 18:04

　　氣體電子倍增器（GEM）電子學板（GEB）在大面積GEM探測器系統(tǒng)中起重要作用。為滿足大面積GEM探測器系統(tǒng)中高速電子學信號的傳輸、實現(xiàn)電磁屏蔽及為前端電子學提供電源等需求,本文設計了8層結構的GEB,并對該GEB原型進行了電氣性能、機械兼容性、信號傳輸和噪聲測試。測試結果顯示,本文所設計的GEB在320 Mb/s信號傳輸速度下的誤碼率小于10^-13,在保證信號高速性和完整性的基礎上能成功傳輸前端電子學信號;通過采用疊層對稱式設計克服了大面積GEB生產(chǎn)時彎曲程度高的困難,生產(chǎn)的GEB原型彎曲高度降低了2/3,平均彎曲高度為1 mm,增強了前端電子學在探測器系統(tǒng)中的運行穩(wěn)定性。 

【文章來源】：原子能科學技術. 2020,54(06)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：5 頁

【部分圖文】：

輸出信號GBTRXDCLK和GBTRXD

為保證GEB原型的生產(chǎn)質量,采用FPGA電路設計及數(shù)字邏輯電路研發(fā)了測試設備,用來測試GEB上高速信號的完整性并監(jiān)測其電源電路是否處于合理工作狀態(tài),并作為GEB在GEM探測器系統(tǒng)上安裝應用的質量控制設備。電氣性測試原理如圖2b所示,設計VFAT3接頭模擬器和OH板接頭模擬器代替探測器系統(tǒng)中VFAT3的輸出端和OH板的輸入端,兩者的另一端皆與由FPGA驅動的25個LED信號指示板連接,測試時各器件與GEB原型形成一個回路,信號指示板上的25個信號燈與GEB傳輸?shù)?2對高速差分信號和RESET復位信號一一對應,若信號傳輸正常,則對應指示燈會亮。2.2 測試步驟

選取GEB兩個側邊的8個點為測試點,采用游標卡尺相繼測量GEB上的6個點與水平面的距離,定義為GEB在該點上的彎曲高度。測試點的選取如圖3所示。4) GEB在探測器系統(tǒng)上的機械兼容性測試


本文編號：3274223