LED照明燈具相比傳統(tǒng)光源具有節(jié)能、環(huán)保、安全、可靠、壽命長、體積小,光效可達到50²00lm/W,在相同照明效果的情況下,耗電量遠低于比過去的普通照明燈。它不像熒光燈那樣含有有毒的汞,也沒有紫外線輻射。因此,LED照明研究成為必然趨勢。LED光源不同于其他光源的一個方面是驅(qū)動,驅(qū)動技術(shù)的研究成為LED照明發(fā)展的關(guān)鍵問題。而隨著集成電路設(shè)計規(guī)模的不斷增大,在越來越復(fù)雜類似于系統(tǒng)芯片SOC（system on a chip）中組合電路的可測試性設(shè)計方法變得越來越重要。在集成電路中使用可測試性技術(shù)一般將測試生成及響應(yīng)分析邏輯至于電路內(nèi)部,提高了芯片的可控制和易觀察性,從而提高芯片測試的故障覆蓋率,大幅縮短測試時間,降低測試難度,縮短芯片的研發(fā)周期。論文設(shè)計開發(fā)了一款采用柵極驅(qū)動結(jié)構(gòu)方式內(nèi)置可測性的LED恒流驅(qū)動電路的測試方案,整個測試方案按平臺類型分為兩部分:基于STS8200平臺的ATE方案設(shè)計評估,主要用于公司內(nèi)部的驗證測試以及失效分析;另一個基于ETS88項目測試開發(fā),介紹測試項目開發(fā)流程,項目調(diào)試以及工程階段的驗證,實現(xiàn)芯片可測試性模塊的設(shè)計要求,用于產(chǎn)品的生... 

【文章來源】：東南大學(xué)江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：82 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

ReadData時序圖

TM_CSFBLHbDataCK_ENDckresetQQnvddTMCKbgRdyQ0DckresetQQnvdd Q1DckresetQQnvdd Q2TestMode Clock:測試模式時鐘狀態(tài)，F(xiàn)B下降沿作為時鐘上升沿;CS作為時鐘復(fù)位使能;CS=1時FB[L]上升沿作為時鐘下降沿;DFFRDFFR DFFR圖 2-11 Read Data 原理圖2.3.3 數(shù)據(jù)寫入部分電路圖 2-12 為數(shù)據(jù)輸入模式狀態(tài)時序圖。數(shù)據(jù)寫入部分的原理圖，主要實現(xiàn)芯片數(shù)據(jù)的預(yù)寫功能和寫數(shù)據(jù)至熔絲位功能，如 2-13 所示。通過由 TM_CS、FBHH、FBLH、FBHLb（下降沿）、FBLHb（上升沿）、bgrdy 等信號實現(xiàn)數(shù)據(jù)可讀時鐘狀態(tài)和數(shù)據(jù)寫入時鐘狀態(tài)的切換控制；如圖 2-12 所示，F(xiàn)BLH（次高電平）、TM_CS 和 FBHLb（FB 下降沿）邏輯為高時，邏輯 DataCK_EN 為高，芯片的模式切換為數(shù)據(jù)輸入模式，在 FBLHb（上升沿）信號控制，分別對 D4、D3、D2 和、D1 寄存器的四位串行寫入 TM_CS 的數(shù)據(jù)信號，實現(xiàn)芯片可測試性電路的預(yù)寫模式。

dlysample:在開始保持邊沿采樣;samplebiasEN:(下電)或(采樣時)使能熔絲下拉電流;holdbFBLHFBHHTM_ENTM_OEbTM_OEb:當(dāng)進入測試模式且FBLH和FBHH都為高時屏蔽測試模式;Q0resetQAQAnvddQ1Q23-8譯碼器Q0Q1Q2QA1~QA6TM_ENFBLHbTrimFinTM_ENTM_CSFBHHdlyFinalTrimENbFinalTrimENb:上電后，F(xiàn)BLH=1數(shù)據(jù)輸入時鐘模式，如果FBHH和CS都高則使能FinalTrim熔絲邏輯譯碼功能，可對寄存器狀態(tài)進行讀取；FBLHb上升沿開始燒；Trim成功后停止燒熔絲；圖 2-13 數(shù)據(jù)寫入部分電路邏輯寫數(shù)據(jù)至熔絲位功能，時序框圖如圖 2-14。

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3208411