光纖的幾何參數(shù)影響著光纖的光學(xué)傳輸和機(jī)械性能等,是衡量光纖質(zhì)量的重要指標(biāo)。近場光分布法是國標(biāo)GB15972.20-2008中推薦的幾何參數(shù)測量方法。該方法在對光纖纖芯的測量中需對光纖通光照明,以區(qū)分纖芯和包層的邊界。通光的纖芯端面是一個(gè)邊緣并不清晰的發(fā)光亮斑,因而無法準(zhǔn)確判斷纖芯與包層的真實(shí)邊緣。本文分析了光纖內(nèi)光傳播模場的分布,理論上光纖模場電磁矢量的解滿足貝塞爾函數(shù),但在近似情況下也可以用高斯函數(shù)代表光纖模場分布。因此本文利用高斯函數(shù)擬合光纖纖芯端面灰度分布,進(jìn)而由擬合后的高斯函數(shù)得到纖芯與包層的真實(shí)邊緣。本方法是對國標(biāo)GB15972.20-2008的測量方法的進(jìn)一步完善。實(shí)驗(yàn)測量結(jié)果表明,當(dāng)光纖的切割效果不佳或成像質(zhì)量較差時(shí),模場灰度分布的高斯函數(shù)擬合法仍能保證測量的重復(fù)精度和測量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。 

【文章來源】：光電工程. 2020,47(04)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
1 引言
2 原理分析
    2.1 貝塞爾函數(shù)與高斯函數(shù)近似
    2.2 邊緣擬合與幾何參數(shù)計(jì)算
3 測量數(shù)據(jù)與討論
    3.1 正常成像條件的光纖幾何參數(shù)測量
    3.2 非正常成像的光纖幾何參數(shù)測量
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3187935