介紹了一種利用被測(cè)數(shù)字電路中可編程微處理器芯片、大規(guī)模可編程FPGA芯片可編程芯片來參與測(cè)試的方法。通過對(duì)被測(cè)數(shù)字電路中可編程芯片進(jìn)行測(cè)試軟件重構(gòu)來完成測(cè)試性電路構(gòu)建。在測(cè)試計(jì)算機(jī)控制下,向被測(cè)電路加載測(cè)試向量。測(cè)試軟件控制被測(cè)電路中的微處理器、FPGA提供各種節(jié)點(diǎn)測(cè)試響應(yīng)信號(hào),最終在測(cè)試計(jì)算機(jī)中完成信號(hào)的比對(duì)及故障識(shí)別與輔助定位。經(jīng)過驗(yàn)證實(shí)驗(yàn),證明該方法具有實(shí)用性強(qiáng)、測(cè)試成本低的優(yōu)點(diǎn)。 

【文章來源】：電子器件. 2020,43(04)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【文章目錄】：
1 基本測(cè)試方法
    1.1 故障檢測(cè)識(shí)別[5]
    1.2 故障隔離與定位
2 測(cè)試方法及系統(tǒng)構(gòu)建
    2.1 基礎(chǔ)測(cè)試
    2.2 聯(lián)調(diào)測(cè)試
    2.3 對(duì)電路的測(cè)試重構(gòu)
    2.4 測(cè)試實(shí)例
        2.4.1 基本模塊測(cè)試
        2.4.2 聯(lián)調(diào)測(cè)試
3 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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[3]基于DSP芯片的高速數(shù)字電路模塊BIT設(shè)計(jì)[J]. 詹進(jìn)雄,杜舒明.  計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制. 2016(10)
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碩士論文
[1]PCB電路故障預(yù)測(cè)與診斷方法研究[D]. 章玉珠.合肥工業(yè)大學(xué) 2016
[2]帶微處理器數(shù)字電路的故障測(cè)試研究[D]. 劉君.湖北工業(yè)大學(xué) 2015



本文編號(hào)：3148203