集成電路測試系統(tǒng)碼型文件解析軟件設計
發(fā)布時間：2021-04-04 15:15
集成電路產品存在于當今社會生活中的各方面,對其產品的測試貫穿產品設計制造的各個環(huán)節(jié)。現如今業(yè)內通常采用的測試方法為:測試向量作為產品中被測芯片引腳輸入、測試人員記錄被測芯片輸出值、比較理論輸出值來判斷該芯片是否達標。由于測試向量的行數常為百兆數量級,對測試儀內存管理有著較高要求,因此采用能夠存儲、傳遞測試向量的碼型文件作為輸入是最為合理的測試向量輸入方式。然而硬件儀器通常不能直接識別碼型文件,故需將其解析為滿足硬件儀器要求的可執(zhí)行二進制文件,再產生相應的測試波形�，F如今業(yè)內常見碼型文件大都與各自的測試儀配套使用,新型集成電路測試系統(tǒng)的開發(fā)者很難將現有碼型文件解析軟件移植到項目中,使得集成電路測試系統(tǒng)的開發(fā)工作更加復雜。本文針對上述問題,研究了泰瑞達碼型文件（后稱T類碼型文件）的語法結構、詞法結構,并且對比了T類與STIL類碼型文件的異同點,再結合解析軟件的構成方式,設計并實現了適用于多種碼型文件的解析軟件設計。在設計過程中,根據軟設計高內聚低耦合的設計原則,本論文采用分層的思想,使程序具有了較好的可讀性和擴展性。本論文包含了以下主要內容:1.針對碼型文件種類較多的問題,以T類碼型文件為...
【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】：82 頁
【學位級別】：碩士
【部分圖文】：
集成電路測試系統(tǒng)結構框圖
圖 2-2 集成電路測試儀結構示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，主算機在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數據下發(fā)至試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數據分別傳測試儀不同模塊進行處理。在下發(fā)過程中由驅動控制向通道板發(fā)送測試向量的率和發(fā)送的電壓值；其次測試機獲得測試向量后，按照相應的時間頻率將測試量對應的的電壓值依次傳遞至數字通道板；最后通道板將通道響應依次下發(fā)至測芯片的對應引腳芯片從而產生響應。圖中數字通道板的結構如圖 2-3 所示。
圖 2-2 集成電路測試儀結構示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，算機在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數據下發(fā)試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數據分別測試儀不同模塊進行處理。在下發(fā)過程中由驅動控制向通道板發(fā)送測試向量率和發(fā)送的電壓值；其次測試機獲得測試向量后，按照相應的時間頻率將測量對應的的電壓值依次傳遞至數字通道板；最后通道板將通道響應依次下發(fā)測芯片的對應引腳芯片從而產生響應。圖中數字通道板的結構如圖 2-3 所示
【參考文獻】：
期刊論文
[1]中國集成電路設計產業(yè)的發(fā)展趨勢[J]. 于宗光,黃偉. 半導體技術. 2014(10)
[2]基于STIL語言的大規(guī)模數字集成電路測試軟件設計[J]. 汪若虛,黃從開,戚瑞民. 電子質量. 2014(04)
[3]集成電路產業(yè)形態(tài)的演變和發(fā)展機遇[J]. 雷瑾亮,張劍,馬曉輝. 中國科技論壇. 2013(07)
[4]淺談信息系統(tǒng)軟件工程監(jiān)理工作的特點[J]. 林少然,張木香. 建設監(jiān)理. 2011(02)
[5]計算語言學的歷史回顧與現狀分析[J]. 馮志偉. 外國語(上海外國語大學學報). 2011(01)
[6]我國集成電路測試技術現狀及發(fā)展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛. 中國測試. 2009(03)
[7]SCPI語言解析器的設計與實現[J]. 杜秀偉,王前程. 電子質量. 2008(08)
[8]一個簡單語言編譯器的設計與實現[J]. 魏樂,趙秋云,劉文清. 成都信息工程學院學報. 2007(03)
[9]測試向量轉換中波形數據格式及其壓縮編碼算法[J]. 吳明行,韓銀和,胡瑜,李曉維. 計算機工程. 2006(23)
[10]VLSI超大規(guī)模集成電路測試和驗證的發(fā)展趨勢[J]. 賈建革,段新安,李詠雪. 中國測試技術. 2005(06)
碩士論文
[1]混合集成電路測試系統(tǒng)上位機軟件設計[D]. 朱龍飛.電子科技大學 2013
[2]數字集成電路測試矢量輸入方法研究和軟件實現[D]. 竇艷杰.電子科技大學 2012
[3]模擬集成電路測試系統(tǒng)及網絡設計[D]. 易指松.電子科技大學 2012
[4]數字集成電路測試系統(tǒng)軟件設計[D]. 溫曉佩.電子科技大學 2011
[5]集成電路測試儀的總線接口與驅動程序設計[D]. 王化寧.電子科技大學 2010
[6]混合信號集成電路自動測試設備的研究與實現[D]. 韓兵兵.湖南大學 2009
[7]虛擬儀器技術基礎及其應用研究[D]. 宋莉.大連理工大學 2003
本文編號：3118282
【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】：82 頁
【學位級別】：碩士
【部分圖文】：
集成電路測試系統(tǒng)結構框圖
圖 2-2 集成電路測試儀結構示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，主算機在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數據下發(fā)至試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數據分別傳測試儀不同模塊進行處理。在下發(fā)過程中由驅動控制向通道板發(fā)送測試向量的率和發(fā)送的電壓值；其次測試機獲得測試向量后，按照相應的時間頻率將測試量對應的的電壓值依次傳遞至數字通道板；最后通道板將通道響應依次下發(fā)至測芯片的對應引腳芯片從而產生響應。圖中數字通道板的結構如圖 2-3 所示。
圖 2-2 集成電路測試儀結構示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，算機在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數據下發(fā)試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數據分別測試儀不同模塊進行處理。在下發(fā)過程中由驅動控制向通道板發(fā)送測試向量率和發(fā)送的電壓值；其次測試機獲得測試向量后，按照相應的時間頻率將測量對應的的電壓值依次傳遞至數字通道板；最后通道板將通道響應依次下發(fā)測芯片的對應引腳芯片從而產生響應。圖中數字通道板的結構如圖 2-3 所示
【參考文獻】：
期刊論文
[1]中國集成電路設計產業(yè)的發(fā)展趨勢[J]. 于宗光,黃偉. 半導體技術. 2014(10)
[2]基于STIL語言的大規(guī)模數字集成電路測試軟件設計[J]. 汪若虛,黃從開,戚瑞民. 電子質量. 2014(04)
[3]集成電路產業(yè)形態(tài)的演變和發(fā)展機遇[J]. 雷瑾亮,張劍,馬曉輝. 中國科技論壇. 2013(07)
[4]淺談信息系統(tǒng)軟件工程監(jiān)理工作的特點[J]. 林少然,張木香. 建設監(jiān)理. 2011(02)
[5]計算語言學的歷史回顧與現狀分析[J]. 馮志偉. 外國語(上海外國語大學學報). 2011(01)
[6]我國集成電路測試技術現狀及發(fā)展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛. 中國測試. 2009(03)
[7]SCPI語言解析器的設計與實現[J]. 杜秀偉,王前程. 電子質量. 2008(08)
[8]一個簡單語言編譯器的設計與實現[J]. 魏樂,趙秋云,劉文清. 成都信息工程學院學報. 2007(03)
[9]測試向量轉換中波形數據格式及其壓縮編碼算法[J]. 吳明行,韓銀和,胡瑜,李曉維. 計算機工程. 2006(23)
[10]VLSI超大規(guī)模集成電路測試和驗證的發(fā)展趨勢[J]. 賈建革,段新安,李詠雪. 中國測試技術. 2005(06)
碩士論文
[1]混合集成電路測試系統(tǒng)上位機軟件設計[D]. 朱龍飛.電子科技大學 2013
[2]數字集成電路測試矢量輸入方法研究和軟件實現[D]. 竇艷杰.電子科技大學 2012
[3]模擬集成電路測試系統(tǒng)及網絡設計[D]. 易指松.電子科技大學 2012
[4]數字集成電路測試系統(tǒng)軟件設計[D]. 溫曉佩.電子科技大學 2011
[5]集成電路測試儀的總線接口與驅動程序設計[D]. 王化寧.電子科技大學 2010
[6]混合信號集成電路自動測試設備的研究與實現[D]. 韓兵兵.湖南大學 2009
[7]虛擬儀器技術基礎及其應用研究[D]. 宋莉.大連理工大學 2003
本文編號：3118282
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