搭建了太赫茲匯聚測(cè)量光路,利用太赫茲探測(cè)器直接掃描測(cè)量的方式,實(shí)現(xiàn)了100 GHz輻射源空間輻射功率密度測(cè)量;利用太赫茲探測(cè)器包裹打孔錫紙的方法,減小接收孔徑,消除探測(cè)器測(cè)量結(jié)果的卷積影響,提高了測(cè)量空間分辨率。將兩種測(cè)量方法進(jìn)行比較,結(jié)果表明:直接掃描法具有較高的信噪比,但空間分辨率低;打孔掃描法具有高空間分辨率,但信噪比較差。該結(jié)論可為太赫茲功率計(jì)量標(biāo)定光路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供參考。 

【文章來源】：實(shí)驗(yàn)室研究與探索. 2020,39(04)北大核心

【文章頁數(shù)】：3 頁

【部分圖文】：

太赫茲匯聚測(cè)量光路圖

實(shí)驗(yàn)將探測(cè)器固定于電控二維平移臺(tái)上,光路中探測(cè)器在距離第2個(gè)透鏡10 mm處采集光斑信息,實(shí)驗(yàn)采用100 GHz太赫茲源,掃描尺寸為20 mm×20 mm,采集光斑信息測(cè)量結(jié)果是光斑功率密度分布的卷積,卷積具有平滑的作用[15],數(shù)據(jù)擬合后結(jié)果見圖2。2.3 打孔掃描法測(cè)量太赫茲輻射功率密度

電控位移平臺(tái)每次移動(dòng)步長(zhǎng)1 mm,而所使用的太赫茲探測(cè)器的接收孔徑遠(yuǎn)大于1 mm,故其測(cè)量結(jié)果是光斑功率密度分布的卷積。卷積結(jié)果會(huì)影響太赫茲功率密度的準(zhǔn)確測(cè)量。為提高測(cè)量的空間分辨率,在探測(cè)器接收口前端套上錫紙,在錫紙中間打上直徑為1 mm的方孔,改進(jìn)前后的探測(cè)器接收端比對(duì)如圖3所示。太赫茲波照射到錫紙表面后無法穿透,故經(jīng)打孔法改進(jìn)后的太赫茲探測(cè)器的接收孔徑為1 mm。采用改進(jìn)后打孔法掃描得到采集的光斑信息,測(cè)得數(shù)據(jù)經(jīng)處理擬合后結(jié)果如圖4所示。圖4 打孔掃描法測(cè)量太赫茲功率密度分布圖


本文編號(hào)：3109090