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三明治結(jié)構(gòu)ZnO基紫外光電探測(cè)器的制備及性能優(yōu)化

發(fā)布時(shí)間:2021-03-26 08:43
  ZnO是一種直接帶隙半導(dǎo)體材料,通過摻雜Mg元素可以獲得MgZn O三元合金,實(shí)現(xiàn)帶隙在3.3-7.8 eV之間可調(diào)。針對(duì)Zn O基MSM結(jié)構(gòu)紫外光電探測(cè)器光吸收率較低等問題,本文首先對(duì)ZnO薄膜參數(shù)進(jìn)行調(diào)控,設(shè)計(jì)出ZnO/Au/ZnO三明治結(jié)構(gòu)紫外光電探測(cè)器,在此基礎(chǔ)上引入MgZnO材料設(shè)計(jì)出Mg0.2Zn0.8O/Au/ZnO和Mg0.5Zn0.5O/Au/ZnO三明治結(jié)構(gòu)紫外光電探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)紫外可見波段以及日盲波段的探測(cè),并對(duì)三明治結(jié)構(gòu)器件性能進(jìn)行系統(tǒng)表征。主要研究成果如下:(1)從增加器件對(duì)光的吸收入手,創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)了三明治結(jié)構(gòu)ZnO/Au/ZnO(300nm)紫外光電探測(cè)器。調(diào)控Au電極厚度,發(fā)現(xiàn)Au電極厚度為20 nm時(shí),5 V偏壓下ZnO/Au/ZnO(300 nm)器件的響應(yīng)度為9.76 A/W。在此基礎(chǔ)上,對(duì)ZnO(S1)薄膜進(jìn)行熱退火處理,達(dá)到優(yōu)化三明治結(jié)構(gòu)器件性能的目的。當(dāng)退火溫度為700℃時(shí),5 V偏壓下ZnO(S1)/Au/Zn... 

【文章來源】:長(zhǎng)春理工大學(xué)吉林省

【文章頁(yè)數(shù)】:67 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

三明治結(jié)構(gòu)ZnO基紫外光電探測(cè)器的制備及性能優(yōu)化


傳統(tǒng)MSM結(jié)構(gòu)和三明治結(jié)構(gòu)對(duì)比圖

I-V曲線,I-V曲線,器件,紫外光


第一章緒論31.3ZnO基紫外光電探測(cè)器的研究現(xiàn)狀目前關(guān)于ZnO基紫外光電探測(cè)器的主要研究方向包括p型ZnO的制備[21,22],為增加ZnO基紫外光電探測(cè)器的實(shí)用性使用導(dǎo)電襯底、柔性襯底[23],提高探測(cè)器靈敏度引入ZnO納米材料等等[24,25],但最為突出的是和MgZnO材料相結(jié)合。由于MgZnO材料可對(duì)可見盲波段和整個(gè)日盲波段(200-280nm)的紫外光進(jìn)行探測(cè),MgZnO材料逐漸成為研究熱點(diǎn)。2011年WuCZ等人通過磁控濺射裝置在玻璃襯底上生長(zhǎng)了Mg0.24Zn0.76O薄膜,蒸鍍Ti/Au電極,制備成MSM結(jié)構(gòu)器件,Mg0.24Zn0.76O薄膜和Ti/Au電極形成歐姆接觸,器件具有較低的暗電流,如圖1.2所示[26]。圖1.2Mg0.24Zn0.76O器件的I-V曲線(a)暗電流(b)光電流2012年XieXH等人研究了一種基于MgZnO/i-MgO/p-Si雙異質(zhì)結(jié)的雙色紫外光電探測(cè)器。該裝置在在太陽(yáng)盲區(qū)(250nm)和可見光盲區(qū)(約330nm)表現(xiàn)出明顯的優(yōu)勢(shì)響應(yīng)。利用該結(jié)構(gòu)的能帶圖如圖1.3所示,解釋能夠進(jìn)行雙色檢測(cè)是由立方MgO和六方MgZnO的價(jià)帶偏移引起的[27]。

能譜圖,能譜圖,薄膜


第一章緒論4圖1.3MgZnO/i-MgO/p-Si能譜圖2013年,LuCY等人在襯底上利用PAMBE法生長(zhǎng)一層MgO薄膜,隨后外延出立方相的MgZnO薄膜[28]。2014年SchoenfeldWV等人利用分子束外延方法在在藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)出了高質(zhì)量的Mg0.46Zn0.54O薄膜,并制備出MSM結(jié)構(gòu)的太陽(yáng)盲波段紫外光電探測(cè)器,如圖1.4所示,在5V偏壓下,探測(cè)器在225nm處的響應(yīng)達(dá)到201A/W[29]。圖1.4Mg0.46Zn0.54OMSM結(jié)構(gòu)響應(yīng)度圖譜2015年HwangJD等人研究了700-900℃退火溫度對(duì)MgZnO薄膜的影響,結(jié)果表明,隨著退火溫度的升高,Mg原子的含量增加,從圖可以看出衍射峰逐漸紅移,如圖1.5所示。900℃退火時(shí),Mg含量測(cè)定為49.2at%。然而,在這樣的高溫退火處理下,MgZnO薄膜中并沒有發(fā)生立方相的MgZnO偏析,說明射頻濺射生長(zhǎng)的MgZnO薄膜是相當(dāng)穩(wěn)定的。高溫(900℃)退火使MgZnO膜致密,晶粒間隙更小,相比于低溫

【參考文獻(xiàn)】:
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本文編號(hào):3101315

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