隨著科學技術的進步,集成電路產(chǎn)業(yè)取得了飛速的發(fā)展。作為保證集成電路性能和質(zhì)量的重要手段,集成電路測試技術得到了深入地研究。數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)是對數(shù)字集成電路電氣參數(shù)、工作性能測試的重要工具。隨著集成電路集成度的提高和引腳的逐漸增多,一塊集成電路所提供的功能日益龐大,集成電路測試系統(tǒng)需要能提供更強大的測試功能以滿足測試需求。本文實現(xiàn)了數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)驅(qū)動程序的設計,可有效地配合界面實現(xiàn)對測試機硬件系統(tǒng)的控制,完成對數(shù)字集成電路的相應測試。本文采用分層設計的思想,使驅(qū)動程序具有更好的擴展性和維護性。本文對數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)驅(qū)動程序進行了以下研究:（1）本文分析了數(shù)字集成電路測試中直流參數(shù)測試和功能測試的測試過程,總結了驅(qū)動程序中驅(qū)動接口總體的調(diào)用流程,并針對硬件設備上測試板卡提供的存儲空間不足的情況,設計了時序集參數(shù)動態(tài)導入和歷史記錄參數(shù)動態(tài)讀取的軟件流程,以支持更多的向量集進行功能測試。根據(jù)集成電路測試原理和上述測試流程,本文總結了測試過程中所需的功能接口,并完成了驅(qū)動程序的框架設計。（2）本文將驅(qū)動程序分為了器件層、功能層和系統(tǒng)層。其中器件層負責提取測試板卡上基礎器件類,并提供... 

【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

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【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

J750Ex-HD測試儀

圖 1-1 J750Ex-HD 測試儀萬(Advantest)公司，成立于 1954 年，其產(chǎn)品主要測試機等。為滿足超大規(guī)模片上系統(tǒng)集成電路列測試儀可通過板卡的擴展，測試通道可達到也可以根據(jù)不同測試要求選擇相應測試板卡。

再通過驅(qū)動程序批量寫入各個數(shù)字電路測試板卡的存儲器中供測試時使用。圖2-9 中可以看到，向量集中的四條向量中都使用了命名為“TSB0”的時序。但在實際的集成電路測試中，特別是面向大規(guī)模數(shù)字集成電路的測試中，測試所需的向量集會很龐大，所需的時序會很多，可能會有“TSB1”、“TSB2”等等。因此，在編譯器的設計中，向量集二進制文件的存儲格式可以有兩種設計方式。第一種方式是在編譯向量集時，用界面中定義的“TSB0”時序中測試向量周期、各引腳邊沿參數(shù)和波形格式替換每條向量中的“TSB0”名，如此每條向量中就包含了各引腳的時序信息和驅(qū)動或期望的邏輯狀態(tài)信息。將這些信息通過驅(qū)動程序?qū)懭氲讓訑?shù)字測試板卡的存儲器中，數(shù)字測試板卡就可以執(zhí)行每條向量來測試與數(shù)字測試板卡測試通道連接的被測器件。第二種方式是將界面中定義的“TSB0”、“TSB1”等時序中的測試向量周期和各引腳邊沿參數(shù)和波形格式存放在數(shù)字電路測試板卡的一塊存儲區(qū)域中，編譯向量集時，將每條向量中的“TSB0”等時序名替換為對應的時序參數(shù)在數(shù)字電路測試板卡內(nèi)存中存儲的偏移量。通過驅(qū)動程序?qū)⑾蛄繉懭氚蹇ǖ拇鎯ζ骱�，�?shù)字電路測試板卡在執(zhí)行每條向量時，會先根據(jù)時序的偏移量在存

【參考文獻】：
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博士論文
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碩士論文
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本文編號：3031936