工作在中長(zhǎng)波的紅外探測(cè)器可被廣泛應(yīng)用在空間成像、軍事和通信等領(lǐng)域,銻基InAsSb材料由于其特殊的性質(zhì)是制作長(zhǎng)波非致冷光子探測(cè)器的理想材料。俄歇復(fù)合壽命是影響探測(cè)器性能的重要因素之一,文章采用Matlab軟件模擬研究了n型和p型InAs_xSb_1-x材料的俄歇復(fù)合壽命隨溫度、As組分及載流子濃度的變化。對(duì)確定的As組分,可通過(guò)優(yōu)化工作溫度及載流子濃度獲得較長(zhǎng)的俄歇復(fù)合壽命。當(dāng)載流子濃度為3.2×10¹⁵ cm^-3、溫度為200K時(shí),n型InAs_0.35Sb_0.65的俄歇復(fù)合壽命最大為2.91×10^-9 s。 

【文章來(lái)源】：半導(dǎo)體光電. 2020,41(01)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【部分圖文】：

InAsxSb1-x材料禁帶寬度隨溫度和As組分的變化

從圖中看到，確定溫度下本征載流子濃度隨As組分的增加先增加后減小，與禁帶寬度的變化趨勢(shì)正好相反。這是由于禁帶寬度減小時(shí)，價(jià)帶上的電子更容易被激發(fā)到導(dǎo)帶上，引起本征載流子濃度的增加。InAsxSb1-x本征載流子濃度隨溫度變化明顯，在200 K時(shí)本征載流子濃度最大為7.2×1015 cm-3，而在350K時(shí)本征載流子濃度最大為1.3×1017 cm-3。2.3 n型InAsxSb1-x材料俄歇復(fù)合壽命

圖4為300K時(shí)，n型InAsxSb1-x材料俄歇復(fù)合壽命與載流子濃度和As組分的關(guān)系。從圖可以看到對(duì)確定的As組分，隨著載流子濃度的增加，俄歇復(fù)合壽命是先增加隨后減小。而當(dāng)載流子濃度確定時(shí)，隨著As組分的增加，俄歇復(fù)合壽命是先減小隨后增加；當(dāng)載流子濃度為3.2×1014 cm-3,As組分為1時(shí)，壽命最大為4.17×10-6 s。圖4 n型InAsxSb1-x材料俄歇復(fù)合壽命與載流子濃度和As組分的關(guān)系

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3024312