數(shù)字化InGaAs探測(cè)器是短波紅外探測(cè)器技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要方向,它不僅可以提升系統(tǒng)的集成度,還可以提升成像系統(tǒng)的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)。通過將模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）集成到讀出電路中實(shí)現(xiàn)數(shù)字化讀出電路是數(shù)字化InGaAs探測(cè)器的技術(shù)核心。文中介紹了640×512數(shù)字化讀出電路的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),并與InGaAs探測(cè)器通過銦柱進(jìn)行倒裝互聯(lián)形成了數(shù)字化InGaAs探測(cè)器組件。通過對(duì)探測(cè)器組件的測(cè)試得到讀出噪聲為230μV,峰值量子效率為65%,在300 K溫度下探測(cè)率為1.2×10¹² cmHz^1/2/W,在60 Hz幀頻下功耗為94 mW。測(cè)試結(jié)果表明,數(shù)字化InGaAs探測(cè)器組件具有低讀出噪聲,高線性度,高傳輸帶寬,高抗干擾性等特點(diǎn)。 

【文章來源】：紅外與激光工程. 2020,49(07)北大核心

【文章頁數(shù)】：8 頁


本文編號(hào)：2965770